[發明專利]一種環境分析儀器

有效

• 申請號: 201210020212.7
• 申請日: 2012-01-29
• 公開（公告）號: CN103226148A
• 公開（公告）日: 2013-07-31
• 發明（設計）人: 肖又曾;李志超
• 申請（專利權）人: 桂林歐博儀器技術有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種可同時并行運行一種或數種不同待檢測指標分析流程的環境分析儀器，包括由閥組、泵組、加熱裝置、溫度傳感器、光電檢測裝置等各種器件構成的傳感器及執行器群，以及由若干在控制技術上可獨立觸發的子系統和系統內部總線構成的分布式、松耦合的控制系統，其特征在于：所述若干子系統中包含有一個分析流程控制單元(1)，以及一個或數個檢測不同檢測指標的開放式子分析系統(2)，所述開放式子分析系統(2)對外提供各類底層操作指令集(11)控制接口，環境分析儀器中的各種待檢測指標的清洗排空、維護調試或分析檢測流程都可通過選用所述底層操作指令集(11)中的若干底層操作指令組合而成，并由分析流程控制單元(1)通過系統內部總線(3)按底層操作指令的組合序列向各開放式子分析系統(2)分步發出，所述各開放式子分析系統(2)在各底層操作的執行過程中或執行結束后，將狀態結果信息通過系統內部總線(3)返回給分析流程控制單元(1)，所述分析流程控制單元(1)根據各開放式子分析系統(2)返回的狀態結果信息按順序或約定的邏輯跳轉規則下發下一步底層操作指令，所述分析流程控制單元(1)通過這種向一個或數個開放式子分析系統(2)按流程步驟分步下發底層操作指令并依據其返回的狀態結果信息控制流程走向的方式控制一個或數個開放式子分析系統(2)并行運行；

所述分析流程控制單元(1)內包含分析流程控制處理器(4)和系統總線接口電路(5)，所述系統總線接口電路(5)連接所述系統內部總線(3)，所述各開放式子分析系統(2)包括各自獨立的總線接口電路(6)、底層操作流程控制處理器(7)、I/O接口電路(8)和下屬的傳感器及執行器群(9)，所述各開放式子分析系統(2)各自的總線接口電路(6)向上連接所述系統內部總線(3)，所述開放式子分析系統(2)各自的I/O接口電路(8)向下連接下屬的傳感器及執行器(9)；

所述各開放式子分析系統(2)的內部按其各底層操作的功能類型在控制軟件結構上劃分出一個或數個子功能單元(10)，所述各開放式子分析系統(2)的底層操作流程控制處理器(7)和總線接口電路(6)為同一開放式子分析系統(2)內部的各子功能單元(10)所共享，所述各子功能單元(10)通過所述I/O接口電路(8)中的相關部分對其下屬的傳感器和執行器群(9)進行測量或控制，所述底層操作指令集(11)中所定義的各子功能單元(10)實現若干底層操作(12)的流程控制算法都內嵌在所述各開放式子分析系統(2)的底層操作流程控制處理器(7)中；

所述底層操作指令集(11)中的每條底層操作指令均包含其在所屬開放式子分析系統(2)中觸發該底層操作所需的索引號，以及運行該底層操作所需的或可為空的操作參數。

2.根據權利要求1所述的環境分析儀器，其特征在于：在所述環境分析儀器中，至少有一個所述開放式子分析系統(2)包含如下子功能單元(10)，暨一個或數個計量驅動單元(13)以及一個或數個分析測定單元(15)；

所述計量驅動單元(13)控制所述開放式子分析系統(2)中執行與試劑及樣品進液或進氣計量及驅動操作的各傳感器與執行器，所述計量驅動單元(13)內包含有與試劑及樣品進液或進氣計量操作及驅動操作相關的底層操作指令集和實現底層操作的流程控制算法；

所述分析測定單元(15)控制所述開放式子分析系統(2)中執行與測定操作相關的各傳感器與執行器；

對于基于電磁輻射吸收光譜原理測量的子分析系統，測定操作定義為對待測物質吸光度或電磁輻射穿過待測物質后被檢出放大轉換后所對應的透射電壓或電流的測量；

對于基于滴定原理測量的子分析系統，測定操作定義為對滴定到達某特征點時滴定所耗時間的測量或對所耗滴定液體積的測定；

對于基于電極法原理測量的子分析系統，測定操作定義為對電極輸出電壓或電流的測量；

對于基于陽極溶出伏安法原理測量的子分析系統，測定操作定義為對陽極溶出時輸出的電壓-電流曲線上不同離子對應的峰電位上倒峰高度的測量；

對于基于色譜分析原理測量的子分析系統，測定操作定義為對各組分色譜峰的測量；

所述分析測定單元(15)內包含有與測定操作流程相關的底層操作指令集和實現底層操作的流程控制算法，在測定操作指令執行完畢后，所述分析測定單元(15)向所述分析流程控制單元(1)返回分析測定結果或等待分析流程控制單元(1)查詢測定結果。