[發明專利]三維集成電路結構及材料的制造方法有效
| 申請號: | 201210016388.5 | 申請日: | 2012-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN102543855A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發明(設計)人: | 郭福春;劉冬生 | 申請(專利權)人: | 訊創(天津)電子有限公司;郭福春;劉冬生 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/02 |
| 代理公司: | 天津市杰盈專利代理有限公司 12207 | 代理人: | 王小靜 |
| 地址: | 300385 天津市西青經*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 三維集成電路 結構 材料 制造 方法 | ||
1.一種三維集成電路結構及材料的制造方法,其特征在于它是經過如下的步驟:
1)在熱塑性承載材料中加入非金屬光誘導催化劑醇類和/或醛類,用注塑機注塑成型為構件,質量含量5-10%;
2)用激光射線在構件的表面照射出的線路圖案;
3)室溫下浸入pH=4-6的至少含一種金屬離子的溶液中,浸泡5-7分鐘;
4)用蒸餾水洗后放入pH=5的含有還原劑的水溶液中浸泡5-7分鐘,構件的表面生成金屬核;
5)在生成金屬核的區域進行化學鍍銅,鍍層厚度為1-12微米,再中磷化學鍍鎳,鍍層厚度為2-3微米。
2.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的熱塑性承載材料為:ABS、聚碳酸酯、聚對苯二甲酸丁二醇酯。
3.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的醇類為固態或液態的一元、二元或三元醇。
4.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的醛類為固態或液態的一元、二元、三元醛。
5.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的激光射線波長范圍從248nm到10600nm,激光調制頻率從1K到1000K,脈沖寬度從4ns到200ns,激光平均功率從0.5W到100W。
6.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的金屬離子溶液中為微量元素金屬鈀(Pd)、銀(質量含量小于0.1-2%)或1%-20%的Ni、Co、Fe、Cu或Zn中的一種或幾種。
7.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的還原劑為聯氨、硼氫化合物、次磷酸鹽、硫代硫酸鹽、聯胺或氯化亞錫。
8.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的化學鍍銅的鍍銅液配方:pH=12,溫度60℃;無水硫酸銅12G/L;酒石酸鉀鈉43g/L;乙二胺四乙酸二鈉14g/L;甲醛21ml/L;亞鐵氰化鉀36mg/L;聯吡啶0.06g/L;氫氧化鈉調pH值;空氣攪拌;化學鍍銅的速率為2-5微米/小時。
9.按照權利要求1所述的方法,其特征在于所述的中磷化學鍍鎳液配方:pH=4.8-5,溫度80-86℃,硫酸鎳27g/L;次磷酸鈉24g/L;醋酸鈉15g/L;乳酸30g/L;檸檬酸4g/L;十二烷基硫酸鈉1g/L;鍍鎳的速率為5-13微米/小時。
10.一種三維集成電路結構及材料的制造方法,其特征在于它是經過如下的步驟:
1)在熱塑性ABS、聚碳酸酯或聚對苯二甲酸丁二醇酯為基底的承載材料中加入1,2,3-三羥基丙醇或2-甲基丙醛,用注塑機注塑成型為構件;其中,1,2,3-三羥基丙醇或2-甲基丙醛的質量含量5-10%;
2)用激光射線在構件的表面照射出的線路圖案;所述的激光射線波長為1064nm,在機殼照射時間為0.01秒;所述的激光射線波長1064nm。
3)室溫下浸入pH=4-6的14%氯化鎳、1%硝酸銀金屬離子的溶液中,浸泡5-7分鐘;
4)用蒸留水洗后放入pH=5的含有次磷酸鈉25%、聯氨8%的水溶液中浸泡7分鐘,構件的表面生成相應金屬核;
5)進行化學鍍銅,鍍層厚度為8-12微米,再中磷化學鍍鎳,鍍層厚度為2-3微米;
所述的化學鍍銅的鍍銅液配方:pH=12,溫度60℃;無水硫酸銅12g/L;酒石酸鉀鈉43g/L;乙二胺四乙酸二鈉14g/L;甲醛21ml/L;亞鐵氰化鉀36mg/L;聯吡啶0.06g/L;氫氧化鈉調pH值;空氣攪拌,化學鍍銅的速率為2-5微米/小時;
所述的磷化學鍍鎳液配方:pH=4.8-5,溫度80-86℃,硫酸鎳27g/L;次磷酸鈉24g/L;醋酸鈉15g/L;乳酸30g/L;檸檬酸4g/L;十二烷基硫酸鈉1g/L,鍍鎳的速率為5-13微米/小時。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





