[發明專利]精密水準標尺的尺帶加工系統及尺帶加工檢測方法有效
| 申請號: | 201210015997.9 | 申請日: | 2012-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN102589572A | 公開(公告)日: | 2012-07-18 |
| 發明(設計)人: | 邱宗明;李林;黃秋紅;趙敏;朱凌建;趙懷軍 | 申請(專利權)人: | 西安理工大學 |
| 主分類號: | G01C25/00 | 分類號: | G01C25/00 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務所 61214 | 代理人: | 李娜 |
| 地址: | 710048*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 精密 水準 標尺 加工 系統 檢測 方法 | ||
1.一種激光漆層剝離精密水準標尺的尺帶加工系統,其特征在于:包括在精密數控機床的大理石床身(11)臺面之下沿縱向水平設置有滾動絲杠(10),滾動絲杠(10)與伺服電動機(7)傳動連接,伺服電動機(7)與伺服控制器(16)連接,伺服控制器(16)通過運動控制接口(15)與主計算機(14)連接,伺服控制器(16)和運動控制接口(15)還同時與電控箱(17)連接;
在大理石床身(11)上表面沿縱向設置有線性滑軌(9),線性滑軌(9)上安置有刻制滑臺(8),刻制滑臺(8)下表面固定有絲母(19),絲母(19)與滾動絲杠(10)螺紋套接;刻制滑臺(8)上表面設置有固定尺帶的夾具(4)和測力傳感器(6),夾具(4)中夾持有縱向水平放置的待刻制尺帶(3),待刻制尺帶(3)的一端設置有激光干涉儀(1),激光干涉儀(1)與位移測量接口(13)連接,位移測量接口(13)同時與主計算機(14)和電控箱(17)連接;待刻制尺帶(3)的另一端通過加載裝置(5)與測力傳感器(6)連接,測力傳感器(6)與主計算機(14)連接;待刻制尺帶(3)的上方設置有固體激光器(2),固體激光器(2)通過刻蝕激光頭控制接口(12)同時與主計算機(14)和電控箱(17)連接。
2.根據權利要求1所述的激光漆層剝離精密水準標尺的尺帶加工系統,其特征在于:所述的激光干涉儀(1)通過激光干涉儀用電路卡(24)與激光干涉儀用并行接口卡(23)連接,激光干涉儀用并行接口卡(23)與主計算機(14)連接,主計算機(14)與控制操作界面(25)連接。
3.根據權利要求1所述的激光漆層剝離精密水準標尺的尺帶加工系統,其特征在于:所述的固體激光器(2)主要包括加工激光器光頭(29)、激光器光學部件(30)、激光電源Q調制器(31)、固體激光器電源(32)、固體激光器及電源冷卻系統(33)組成,固體激光器(2)還與燒蝕控制計算機(20)連接,燒蝕控制計算機(20)與燒蝕設定操作界面(22)連接,燒蝕控制計算機(20)還與拖板驅動控制開關量卡(27)連接。
4.根據權利要求1所述的激光漆層剝離精密水準標尺的尺帶加工系統,其特征在于:所述的伺服電動機(7)與拖板驅動控制單元(26)連接,拖板驅動控制單元(26)同時與拖板驅動控制D/A卡(28)、拖板驅動控制開關量卡(27)連接,拖板驅動控制D/A卡(28)還與主計算機(14)連接;
拖板驅動控制開關量卡(27)與零位傳感器(37)和限位傳感器(38)同時連接,零位傳感器(37)安裝在大理石床身尺帶的前端,限位傳感器(38)安裝在滾動絲杠(10)的后端。
5.根據權利要求1所述的激光漆層剝離精密水準標尺的尺帶加工系統,其特征在于:還包括圖像預檢模塊,圖像預檢模塊包括對向尺帶的圖像傳感器(34),圖像傳感器(34)與影像顯示器(35)、圖像檢測系統(36)互相連接。
6.一種對激光漆層剝離精密水準標尺的尺帶檢測控制方法,其特征在于,該方法利用一種利用權利要求1-5所述的裝置,在主計算機(14)中設置預先編制的加工程序,通過以下各個部分配合實施,
A、主計算機(14)通過激光干涉儀用電路卡(24)與激光干涉儀用并行接口卡(23)控制激光干涉儀(1)的工作,用于測量拖板運行的位移量;
B、主計算機(14)通過拖板驅動控制D/A卡(28)控制拖板驅動控制單元(26)工作,拖板驅動控制單元(26)控制伺服電動機(7)工作,實現刻制滑臺(8)的精確移動,同時,拖板驅動控制單元(26)通過拖板驅動控制開關量卡(27)分別實現刻制滑臺(8)兩端進行尺帶的限位檢測和尺帶的零位檢測;
C、拖板驅動控制開關量卡(27)與燒蝕控制計算機(20)連接,燒蝕控制計算機(20)通過燒蝕設定操作界面(22)進行操作設置,燒蝕控制計算機(20)控制固體激光器(2)的加工激光器光頭(29)工作,對待加工尺帶(3)進行燒蝕刻制;
D、利用圖像預檢模塊中的圖像傳感器采集尺帶加工圖像信息,圖像檢測系統進行加工質量判定,圖像檢測系統與主計算機(14)連接輸出結果,對刻蝕加工后的尺帶進行質量檢測。
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