[發明專利]振鏡校正系統的快速校正方法

無效

• 申請號: 201210015701.3
• 申請日: 2012-01-19
• 公開（公告）號: CN103212873A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 魏志凌;寧軍;蔡猛
• 申請（專利權）人: 昆山思拓機器有限公司
• 主分類號: B23K26/42
• 分類號: B23K26/42
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

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技術領域

本發明涉及一種精密振鏡校正系統的快速校正方法。

背景技術

在激光加工技術中，一般是利用振鏡控制光路來加工各種復雜的圖形和字符;由于存在環境溫濕度干擾、電機丟步等原因，振鏡在使用一定時間后會產生偏差，從而導致在加工過程中振鏡掃描的區域與區域之間的拼接處形成了偏差，產品加工失敗，此時就要對振鏡進行誤差補償以減小這種偏差。

傳統技術是在校正板上打矩陣標靶后，再結合輔助測量設備(如二次元等)進行測量，由人工計算出理論與實際的偏差，再通過補償計算軟件生成校正文件，這樣不僅費時，還需要專門的測量人員以及昂貴的輔助測量設備;針對高強度的加工作業，高精度振鏡平均每隔兩天就要做一次校正，傳統技術執行起來難免費時費力?，F有的技術一般為利用激光在標靶上打出矩陣，在利用CCD單個圖形依次抓取，整個激光打矩陣標靶耗時1分鐘，但是CCD抓取整個標靶卻需要40分鐘，整體耗時嚴重。

中國專利CN101513693公開了一種振鏡校正系統及其校正方法；振鏡校正系統包括：振鏡校正板，由振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置，用于對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集；以及圖像處理模塊，用于對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。

本發明提出了一種振鏡校正系統及校正方法，以解決現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題，本發明提供一種精密振鏡校正系統的快速校正方法，該振鏡校正系統簡單穩定，校正方法快速便捷。

為解決上述技術問題，本發明采用的技術方案如下：一種振鏡校正系統的快速校正方法，所述的振鏡校正系統包括振鏡校正板、振鏡掃描模塊、CCD圖像采集裝置和圖像處理模塊；振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集，圖像處理模塊對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正；所述振鏡校正系統的快速校正方法，包括如下幾個步驟:?

a）CCD校正，在振鏡校正板上切割一個圓孔，將CCD移至小圓位置，移動機臺使得CCD捕捉到圓心位置，計算CCD?Offset值，并輸入到控制系統，完成CCD校正；

b）振鏡掃描模塊控制激光在振鏡校正板上形成矩陣標靶，CCD圖像采集裝置對矩陣標靶進行圖像采集；

c）圖像處理模塊同步對上述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理，處理后生成振鏡補償文件對振鏡進行校正。

上述技術方案中，步驟c）中對振鏡進行校正方法為：將振鏡要校正的區域分成若干個小區域，激光打標靶下一個區域的同時，CCD即可拍照采集標靶上一個區域的位置圖片，計算機同時對比理論標靶位置與采集的圖片標靶位置，從而計算補償，當打靶完成的同時，生成振鏡校正文件。

具體的校正方法如下：

1、?CCD校正：在振鏡校正板上切割一小圓（例如半徑0.5mm的圓），將CCD移至小圓位置，移動機臺使得CCD捕捉到圓心位置，計算CCD?Offset值并輸入到控制系統，至此，CCD校正完成。

2、?振鏡掃描模塊控制激光在振鏡校正板上形成矩陣標靶的同時，CCD圖像采集裝置對矩陣標靶進行圖像采集;而且圖像處理模塊能同步對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理，處理后生成振鏡補償文件對振鏡進行校正。

對振鏡進行校正實現辦法為：將振鏡要校正的區域分成若干個小區域，激光打標靶區域2的同時，CCD即可拍照采集標靶區域1的位置圖片，計算機同時能夠對比理論標靶位置與采集的圖片標靶位置，從而計算補償。所以當打靶完成的同時，振鏡校正文件即可生成。

本發明的優點在于：

1、?提供的振鏡校正系統采用機器自帶的CCD圖像采集裝置對振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集，無需借助輔助設備即可方便快捷地實現對振鏡的校正。

2、三種工作（激光打靶，CCD圖像采集，圖像處理）同步進行，大大節約了振鏡校正的時間，實現了真正意義上的快速校正。?

本發明提出的振鏡校正系統及校正方法，解決了現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題，校正系統簡單穩定，振鏡校正快速便捷，取得了較好的技術效果。

附圖說明

圖1?為振鏡校正系統示意圖。

圖2?為振鏡系統校正的方法流程示意圖。