[發明專利]按鍵測試裝置及按鍵測試系統

有效

• 申請號: 201210015413.8
• 申請日: 2012-01-18
• 公開（公告）號: CN103217643A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 賴貴城
• 申請（專利權）人: 深圳安格儀器有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

【技術領域】

本發明涉及一種電子產品測試設備，尤其涉及一種適用于對電子產品的按鍵開關進行自動測試的按鍵測試裝置及按鍵測試系統。

【背景技術】

在各類電子產品、機械設備上大量使用著各種形式的按鍵，現有技術對按鍵的性能及壽命測試通常是采用人工或機械的方式。其中，人工的方式存在著測試效率低、測試力度不規范、沒有嚴格的測試標準等缺點。

本公司申請人在先申請的中國發明專利200610062967.8公告的《砝碼重力指》就是一種可取代原有的人手測試，克服了人手測試按鍵開關導通程度不一及下壓力度不一的缺陷。可準確地測量出按鍵開關的過靈敏度和過重按壓度的裝置。該《砝碼重力指》包括一軸桿，軸桿的端部至少設有一組在限定范圍內可軸向移動的砝碼，軸桿配有一可控制其軸向移動的驅動機構和復位彈簧；軸桿上還設有用于其在臺面移動板上固定的安裝座。利用驅動機構對砝碼的控制，將設定重量的砝碼施加在被測按鍵開關上，對按鍵的按壓力進行測試。若憑借向下一定距離時，按鍵開關導通了，則說明被測按鍵視為過靈敏，為不合格產品。若憑借砝碼重量不能促使按鍵開關導通，則說明被測按鍵為不合格產品。具有測試速度快、測試準確規范等優點。但在實際應用中，發現上述結構的砝碼重力指尚存在以下缺陷：1.無法仿真人手對按鍵的段落感覺，2.砝碼下降速度快，無緩沖，如用到兩顆砝碼時，由于上、第二砝碼間是以硬著落方式疊加的，即第一砝碼以自由落體方式疊加在第二砝碼上，其下降速度過快，按鍵的行程很短，而導致不可測試段落感，因此會影響測試的準確性。

【發明內容】

基于此，有必要提供一種測試準確度較高的按鍵測試裝置及按鍵測試系統。

一種按鍵測試裝置，包括：

按壓件，用于按壓待測按鍵；

荷載件，與該按壓件可移動地相連；

第一緩沖件，設于該按壓件與該荷載件之間。

在優選的實施例中，還包括：

第一驅動裝置，與該荷載件相連，用于驅動該荷載件朝靠近或遠離待測按鍵的方向運動；

第二驅動裝置，用于驅動待測按鍵朝靠近或遠離該按壓件的方向運動；及

檢測設備，用于測量按壓件的位移及施加在待測按鍵上的力度。

在優選的實施例中，該檢測設備包括用于測量按壓件的位移的光學檢測系統，該光學檢測系統包括安裝于該按壓件的光學刻度尺及與該光學刻度尺相對應的光電傳感器。

在優選的實施例中，該荷載件的內部開設有收容腔，該荷載件的底部還開設有連通該收容腔的通孔，該荷載件位于該通孔的周圍形成抵壓座，該按壓件包括桿部和位于該桿部一端的按壓部，該按壓部的寬度小于該桿部的寬度，該桿部活動收容于該收容腔，該按壓部穿設于該通孔，該第一緩沖件一端與該抵壓座相抵，另一端與該桿部的端面相抵，該按鍵測試裝置還包括設于該桿部頂部與該收容腔的頂部之間的第二緩沖件。

一種按鍵測試系統，包括多個上述的按鍵測試裝置，用于同時測試多個待測按鍵，每一待測按鍵包括上電極和下電極，多個待測按鍵的上電極相互連接，或者多個待測按鍵的下電極相互連接。

在優選的實施例中，還包括控制模塊，該多個待測按鍵分成多個區域，該控制模塊控制該第一驅動裝置和第二驅動裝置對每一區域單獨檢測。

一種按鍵測試裝置，包括：

按壓件，用于按壓待測按鍵，該按壓件包括桿部和位于該桿部一端的按壓部，該桿部上設有多個間隔的托塊；

支架，包括多個平行設置的支撐板和位于相鄰兩個支撐板之間的支撐柱，每個支撐板上開設有允許該托塊穿過的通孔；

多個荷載件，每個荷載件放置在一個支撐板上，每個荷載件上開設有允許該桿部穿過但阻止該托塊穿過的過孔，且相鄰兩個荷載件之間的距離大于相鄰兩個托塊之間的距離；

第一驅動裝置，與該支架相連，用于驅動該桿部朝靠近或遠離待測按鍵的方向運動；

第二緩沖件，設于一個托塊與支架之間；

多個觸動開關，每個觸動開關設在一個支撐板上，并能被該荷載件的壓力所觸發；及

檢測設備，與該多個觸動開關和待測按鍵相連，用于測量按壓件的位移及接收該多個觸動開關發出的信號。

在優選的實施例中，還包括多個第一緩沖件，每個第一緩沖件設于一個托塊與一個荷載件之間；或每個第一緩沖件設于一個支撐板與一個荷載件之間。

一種按鍵測試裝置，包括：

按壓件，用于按壓待測按鍵，該按壓件包括桿部和位于該桿部一端的按壓部，該桿部上設有多個間隔的托塊；