[發明專利]用于測量氣體汞含量的氣體分析器

有效

• 申請號: 201210015303.1
• 申請日: 2012-01-17
• 公開（公告）號: CN102621081A
• 公開（公告）日: 2012-08-01
• 發明（設計）人: 羅爾夫·迪施
• 申請（專利權）人: 西克麥哈克有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 楊靖;車文

1.用于測量氣體汞含量的汞氣體分析器，所述汞氣體分析器具有Hg光源、測量室、光接收器、評估單元和用于檢驗功能性的測試器皿，所述Hg光源發射出具有汞的至少一個光譜線的波長的發射光，所述測量室引導含汞氣體，所述測試器皿能被引入光路中，其特征在于，所述測試器皿含有苯，作為測試氣體。

2.根據權利要求1所述氣體分析器，其特征在于，所述苯的濃度約為1％。

3.根據權利要求1或2所述氣體分析器，其特征在于，所述測試器皿中光學的光程長度約為2cm。

4.根據前述權利要求之一所述氣體分析器，其特征在于，所述測試器皿中的壓力約為1000mbar。

5.根據前述權利要求之一所述氣體分析器，其特征在于，所述測試器皿中的溫度約在室溫與50℃之間。

6.根據前述權利要求之一所述氣體分析器，其特征在于，設置有多個彼此連接的、分別具有不同的光學路程長度的測試器皿。

7.用于標定汞氣體分析器的方法，具有如下步驟：

-通過Hg光源產生具有至少一個Hg光譜線的波長的光；

-提供測試器皿，所述測試器皿具有已知濃度的苯，作為測試氣體；并因此提供所述測試器皿在所述Hg光譜線的波長下的已知標定值；

-在光路中插入所述測試器皿；

-根據所述已知標定值來標定所述氣體分析器。

8.根據權利要求7所述方法，其特征在于，在調試運行所述氣體分析器時，首先，借助于將已知的汞濃度供應到所述測量器皿中來初次標定所述氣體分析器，并且然后為所述測試器皿測定測量值進而作為標定值加以存儲，并且在所有后續的利用所述測試器皿的標定中，將當前獲得的測量值與所述標定值比較，并從而在運行中標定所述氣體分析器。

9.根據權利要求7或8所述方法，其特征在于，使用具有不同光學路程長度的不同測試器皿。