[發明專利]腔室加熱裝置有效
| 申請號: | 201210014888.5 | 申請日: | 2012-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN103208440A | 公開(公告)日: | 2013-07-17 |
| 發明(設計)人: | 席峰;李楠;李勇滔;張慶釗;夏洋 | 申請(專利權)人: | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01J37/32;H01J37/02 |
| 代理公司: | 北京市德權律師事務所 11302 | 代理人: | 劉麗君 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 加熱 裝置 | ||
1.一種腔室加熱裝置,其特征在于,包括:
腔室壁加熱結構和/或載片臺加熱結構;
所述腔室壁加熱結構設置在反應腔室的內壁上;
所述載片臺加熱結構設置在載片臺底部。
2.如權利要求1所述的腔室加熱裝置,其特征在于,所述腔室壁加熱結構包括:
第一加熱線圈、引出電極及設有空腔的腔室內襯套;
所述腔室內襯套是一中空的圓柱體,所述腔室內襯套安裝在反應腔室的內壁上;
所述空腔設置在所述腔室內襯套內、外壁之間;
所述第一加熱線圈呈螺旋狀,設置在所述空腔內部。
3.如權利要求2所述的腔室加熱裝置,其特征在于:
所述第一加熱線圈的圈數是2~200圈,所述第一加熱線圈的管徑為1~200mm,直徑范圍為10~10000mm,螺旋間距為1~1000mm;
所述第一加熱線圈的管壁到腔室內襯套壁的距離為0.5~10mm;
所述腔室內襯套外壁與反應腔室內壁之間的距離為1~20mm;
所述腔室內襯套內、外壁厚均為0.5~30mm;
所述腔室內襯套內壁的直徑為100~5000mm;
所述引出電極電壓Vt為5V~2000V,加熱功率Pt為1~10000W。
4.如權利要求3所述的腔室加熱裝置,其特征在于,所述載片臺加熱結構包括:
第二加熱線圈和引出電極;所述第二加熱線圈呈平面螺旋狀,與所述引出電極連接。
5.如權利要求4所述的所述的腔室加熱裝置,其特征在于:
所述第二加熱線圈的圈數是1~50圈,所述第二加熱線圈管徑為0.5~100mm,直徑范圍為10~5000mm,螺旋間距為1~1000mm;
所述引出電極電壓Vs為5V~2000V,加熱功率為1W~5000W。
6.如權利要求2-5任一項所述的腔室加熱裝置,其特征在于:
所述加熱載片臺和腔室內襯套的溫度為20~2000℃。
7.如權利要求2-5任一項所述的腔室加熱裝置,其特征在于:
所述第一加熱線圈和第二加熱線圈為內置金屬絲加熱管、紅外加熱管、陶瓷加熱管或石墨加熱盤。
8.如權利要求2-5任一項所述的腔室加熱裝置,其特征在于:
所述第一加熱線圈和第二加熱線圈外部的絕緣材料包括陶瓷、石英或聚碳酸酯。
9.如權利要求2-5任一項所述的腔室加熱裝置,其特征在于:
所述腔室內襯套采用陽極氧化鋁合金、SiC、鉬、石墨材料制作;
所述引出電極包括銅、石墨、鉬或鍍鋅鋁。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





