[發(fā)明專利]室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210014357.6 | 申請日: | 2012-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN102530854A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張亞非;蘇言杰;魏浩 | 申請(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號: | B82B3/00 | 分類號: | B82B3/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人: | 林君如 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 室溫 等離子體 刻蝕 制備 半導(dǎo)體 性單壁碳 納米 方法 | ||
1.室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
(1)將均勻分散在有機(jī)溶劑中的碳納米管滴在載玻片上并烘干;
(2)將烘干后載玻片放入等離子處理設(shè)備中并抽真空至10-2Pa;
(3)調(diào)節(jié)等離子體處理腔內(nèi)低壓氣體的壓力、等離子體功率、刻蝕時(shí)間實(shí)現(xiàn)對金屬性單壁碳納米管的刻蝕,留下半導(dǎo)體性單壁碳納米管,即為產(chǎn)品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的有機(jī)溶劑為N、N-二甲基甲酰胺、異丙醇或乙醇。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的碳納米管在有機(jī)溶劑中的固含量為5~20mg/100ml。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的低壓氣體為單質(zhì)氣體,包括氬氣、氦氣、氮?dú)狻錃饣蜓鯕狻?/p>
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的低壓氣體為化合物氣體,包括一氧化碳、二氧化碳或甲烷。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的低壓氣體的壓力為1~100Pa。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的等離子體功率為10~100W。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的室溫等離子體刻蝕制備半導(dǎo)體性單壁碳納米管的方法,其特征在于,所述的刻蝕時(shí)間為0.1~60min。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海交通大學(xué),未經(jīng)上海交通大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210014357.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





