[發明專利]一種鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法有效
| 申請號： | 201210013280.0 | 申請日： | 2012-01-16 |
| 公開（公告）號： | CN102608213A | 公開（公告）日： | 2012-07-25 |
| 發明（設計）人： | 沈功田;李麗菲;吳占穩;張崢 | 申請（專利權）人： | 中國特種設備檢測研究院;北京航空航天大學 |
| 主分類號： | G01N29/11 | 分類號： | G01N29/11 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人： | 韓國勝;王瑩 |
| 地址： | 100013 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 鑄鐵 材料 缺陷 聲學 檢測 方法 | ||
1.一種鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法，其特征在于，包括以下過程：
S1：制作對比試板和最大容許缺陷試板；其中，所述對比試板上無缺陷，所述最大容許缺陷試板具有鑄鐵材料容許的最大缺陷，所述對比試板和最大容許缺陷試板的材質、形狀、大小與待測鑄鐵試板完全相同；
S2：對所述對比試板進行超聲檢測，具體包括以下過程：
S2a：激勵探頭的位置O保持不動，將所述掃查探頭放置于最初位置A，在A位置處掃查探頭所測得的波形信號的幅度記錄為AAm；
S2b：激勵探頭的位置O保持不動，沿著射線OA方向不斷移動掃查探頭位置的同時接收和記錄每個位置處波形信號的幅度，直至所測得的幅度等于5AAm/9，記錄此時掃查探頭的位置B，將線段OB的長度記錄為L，L為所述聲學檢測方法的有效檢測量程；
S2c：對掃查探頭位于線段AB內時所接收到的幅度進行歸一化處理，得到歸一化衰減曲線S，其中橫坐標表征掃查探頭的位置，縱坐標表征歸一化后的幅度值；
S3：對所述最大容許缺陷試板進行超聲檢測，具體包括以下過程：
S3a：移動激勵探頭以及掃查探頭的位置，一方面滿足所述激勵探頭與所述掃查探頭之間的距離為L，另一方面使得掃查探頭的位置處于其所測得的幅度經過最大容許缺陷衰減降低后重新升高并剛剛恢復到5AAm/9的位置，此時掃查探頭的位置設定為C，激勵探頭的位置設定為D；
S3b：作掃查探頭處于線段CD范圍內的幅度的歸一化衰減曲線S1，其中橫坐標表征掃查探頭的位置，縱坐標表征歸一化后的幅度值；
S3c：將曲線S1與曲線S對應到同一坐標系內，其中位置C與B重合，D與O重合；
S3d：將曲線S1與曲線S相比較，將曲線S1相比曲線S相對衰減程度開始變快的橫坐標位置設定為E；
S3e：測得線段EC之間的距離為d1，比較線段EC內相同橫坐標下曲線S1與曲線S的縱坐標之差，獲得縱坐標最大差值h；
S4：對所述待測鑄鐵試板進行超聲檢測，具體包括以下過程：
S4a：激勵探頭的位置保持不動，將掃查探頭的最初位置設定為與激勵探頭相距d；
S4b：在激勵探頭指向掃查探頭的連線的延長線上不斷地改變掃查探頭的位置，每次改變d1/2，記錄掃查探頭所處的位置以及所測得的波形信號的幅度值，并且使得所述激勵探頭與所述掃查探頭的距離始終保持在L內；
S5：將過程S4b中所測到的數據作成歸一化衰減曲線S2，橫坐標為掃查探頭的位置，縱坐標為進行歸一化處理后的每個相應位置的幅度值；
S6：比較曲線S2與S，若存在某一橫坐標下曲線S2相應縱坐標的值比曲線S相應縱坐標的值相差超過h/2，則判定待測鑄鐵試板上存在缺陷，若所測得的各個橫坐標下曲線S2與曲線S相應縱坐標的差值都不大于h/2，則判定該待測鑄鐵試板上的缺陷處于允許的范圍內。
2.如權利要求1所述的鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法，其特征在于，所述位置O與最初位置A之間的線段OA的長度為d，d的取值范圍在4cm～6cm之間。
3.如權利要求1所述的鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法，其特征在于，所述待測鑄鐵試板為厚度大于10mm的鑄鐵。
4.如權利要求3所述的鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法，其特征在于，所述d1為20cm。
5.如權利要求1所述的鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法，其特征在于，所述激勵探頭所發出的超聲波中心頻率fc設定在300KHz～800KHz之間。
6.如權利要求1所述的鑄鐵材料缺陷的聲學檢測方法，其特征在于，所述缺陷為裂紋缺陷。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國特種設備檢測研究院;北京航空航天大學，未經中國特種設備檢測研究院;北京航空航天大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210013280.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
