[發明專利]一種基于微型電子加速器和能譜測量技術的高精度直流特高壓測量方法有效
| 申請號： | 201210013051.9 | 申請日： | 2012-01-16 |
| 公開（公告）號： | CN103207316A | 公開（公告）日： | 2013-07-17 |
| 發明（設計）人： | 陰澤杰;李世平 | 申請（專利權）人： | 中國科學技術大學 |
| 主分類號： | G01R19/04 | 分類號： | G01R19/04;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人： | 鄭立明;趙鎮勇 |
| 地址： | 230026 安*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 微型 電子 加速器 測量 技術 高精度 直流 高壓 測量方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于微型電子加速器和能譜測量技術的高精度直流特高壓測量方法，其特征在于，包括：
將待測高壓加在高真空電子加速管兩端的電極上形成加速電場，并通過激光光源發出連續的光在光陰極激發出光電子，所述光電子受電場作用而加速，然后射入閃爍體探測器中產生閃爍光脈沖，將所述閃爍光脈沖經集束光纖傳輸到低壓側的電子學系統產生電壓或電流脈沖；
通過分時多道對所述電壓或電流脈沖的幅度進行測量，得到符合高斯分布的能譜，所述能譜的峰值處對應的能量正比于待測高壓的大小。
2.根據權利要求1所述的基于微型電子加速器和能譜測量技術的高精度直流特高壓測量方法，其特征在于，激發出的所述光子由光纖導入，接收的所述光電子由接收集束光纖導出。
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