[發明專利]使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法和裝置

有效

• 申請號: 201210012028.8
• 申請日: 2012-01-05
• 公開（公告）號: CN102590873A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: R·A·史密斯
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01V3/12
• 分類號: G01V3/12
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 趙蓉民

1.一種使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，該方法包括：

(a)提供至少兩個電磁毫米波信號源；

(b)發射來自所述至少兩個電磁毫米波信號源的至少兩個電磁毫米波信號以照亮所述物體；所述至少兩個電磁毫米波信號具有至少兩個不同頻率；

(c)不以特定順序執行以下步驟：

(1)確定來自所述物體的返回反射信號是否高于預定閾值信號水平；

[a]若所述返回反射信號高于所述預定閾值信號水平，則處理所述返回反射信號以識別所述物體的形狀；

[b]若所述返回反射信號不高于所述預定閾值信號水平，則處理另一返回信號；以及

(2)確定是否探測到來自所述物體的返回互調分量或諧波信號；

[a]若探測到所述返回互調分量或諧波信號，則處理所述返回互調分量或諧波信號以識別所述物體的性質；

[b]若未探測到所述返回互調分量或諧波信號，則處理另一返回信號；

(d)確定是否已核對所有返回信號；

(1)若未核對所有返回信號，則處理另一返回信號；

(2)若已核對所有返回信號，則繼續前進至步驟(e)；

(e)確定所述方法是否已得到滿意的結果；

(1)若所述方法未得到滿意的結果，則改變所述至少兩個電磁毫米波信號中的至少一個的頻率且重復步驟(b)至(e)；

(2)若所述方法已得到滿意的結果，則終止所述方法。

2.根據權利要求1所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中所述方法進一步包含：

用以下步驟替換步驟(e)(1)：若所述方法未得到滿意的結果，則提出是否期望所述物體的另一方位的詢問；

[a]若期望所述物體的另一方位，則通過實現以下步驟中的至少一個來改變物體方位：

[1]掃描所述至少兩個電磁毫米波信號至所述物體的不同方位角；

[2]移動所述物體以將不同的方位呈現給所述至少兩個電磁毫米波信號源；以及

[3]重復步驟(b)至(e)；以及

[b]若不期望所述物體的另一方位，則改變所述至少兩個電磁毫米波信號中的至少一個的頻率并且重復步驟(b)至(e)。

3.根據權利要求1所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中所述物體包括基本上處于單一位點的多個物體單元。

4.根據權利要求2所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中所述物體包括基本上位于單一位點的多個物體單元。

5.根據權利要求2所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中基本上通過所述至少兩個電磁毫米波信號源相對于所述物體的機械重新定位來實現所述掃描。

6.根據權利要求2所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中基本上通過電子信號導引實現相對于所述物體重新定向所述至少兩個電磁毫米波信號來執行所述掃描。

7.根據權利要求3所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中基本上通過所述至少兩個電磁毫米波信號源相對于所述物體的機械重新定位來實現所述掃描。

8.根據權利要求3所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的方法，其中基本上通過電子信號導引實現相對于所述物體重新定向所述至少兩個電磁毫米波信號來執行所述掃描。

9.一種使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的裝置，該裝置包括：

(a)至少兩個電磁毫米波信號源；所述至少兩個電磁毫米波信號源相對于所述物體被定向以允許由來自所述至少兩個電磁毫米波信號源的至少兩個電磁毫米波信號照亮所述物體；所述至少兩個電磁毫米波信號具有至少兩個不同頻率；

(b)至少一個接收器單元，其相對于所述物體定向以允許接收所述至少兩個電磁毫米波信號中的選定電磁毫米波信號的反射信號；

(c)與所述至少一個接收器單元耦合的分析單元；所述分析單元探知所述反射信號和所述反射信號中的互調分量或諧波信號的信號水平；

當所述反射信號高于預定閾值信號水平時所述物體的形狀被指明；所述物體的性質被所述互調分量或諧波信號指明。

10.根據權利要求17所述的使用電磁毫米波信號照明來檢查物體的裝置，其中所述至少兩個電磁毫米波信號源和所述物體中的至少一個被配置為重新定向以將所述物體的不同方位呈現給所述至少兩個電磁毫米波信號源。