[發(fā)明專利]基于Ni膜退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法有效
申請?zhí)枺?/td> | 201210007709.5 | 申請日: | 2012-01-03 |
公開(公告)號: | CN102583325A | 公開(公告)日: | 2012-07-18 |
發(fā)明(設計)人: | 郭輝;張克基;張玉明;鄧鵬飛;雷天民 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
主分類號: | C01B31/04 | 分類號: | C01B31/04 |
代理公司: | 陜西電子工業(yè)專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 基于 ni 退火 cl sub 反應 sic 襯底 制備 石墨 方法 | ||
1.一種基于Ni膜退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)對SiC樣片進行清洗,以去除表面污染物;
(2)將清洗后的SiC樣片置于石英管中,加熱至700-1100℃;
(3)向石英管中通入Ar氣和Cl2氣的混合氣體,持續(xù)時間3-8min,使Cl2與3C-SiC反應生成碳膜;
(4)在Si基體上電子束沉積300-500nm厚的Ni膜;
(5)將生成的碳膜樣片的碳面置于Ni膜上,并將它們一同置于Ar氣中在溫度為900-1100℃下退火10-30min,使碳膜重構成石墨烯,再將Ni膜從石墨烯樣片上取開。
2.根據(jù)權利要求1所述的基于Ni膜輔助退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法,其特征在于所述步驟(1)對SiC樣片進行清洗,是先使用NH4OH+H2O2試劑浸泡SiC樣片10分鐘,取出后烘干,以去除樣片表面有機殘余物;再使用HCl+H2O2試劑浸泡樣片10分鐘,取出后烘干,以去除離子污染物。
3.根據(jù)權利要求1所述的基于Ni膜退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法,其特征在于步驟(3)所述通入的Ar氣和Cl2氣,其流速分別為95-98sccm和5-2sccm。
4.根據(jù)權利要求1所述的基于Ni膜退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法,其特征在于所述步驟(4)中電子束沉積的條件為基底到靶材的距離為50cm,反應室壓強為5×10-4Pa,束流為40mA,蒸發(fā)時間為10-20min。
5.根據(jù)權利要求1所述的基于Ni膜退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法,其特征在于所述步驟(5)退火時Ar氣的流速為25-100sccm。
6.根據(jù)權利要求1所述的基于Ni膜退火和Cl2反應的SiC襯底上制備石墨烯的方法,其特征在于所述SiC樣片的晶型采用4H-SiC或6H-SiC。
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