[發明專利]塢接式測試系統

有效

• 申請號: 201210004319.2
• 申請日: 2012-01-09
• 公開（公告）號: CN103196924A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 劉光祥;賴啟祥
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 周長興

技術領域

本發明是關于一種測試系統，尤其指一種適用于半導體組件、可輕易變換不同測試規格的塢接式測試系統。

背景技術

近幾年來，隨著微機電系統的日新月異，各種小型化、高性能且成本低廉的傳感器紛紛問世，使得傳感器由關鍵組件進一步提升成為產生創新價值的主要組件，例如：蘋果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii所使用的三軸加速度傳感器，大部分采用微機電系統技術運用在傳感器上，加速度傳感器的運作原理為感應出加速度方向的XYZ三軸成分，從而得出物體在三度空間中的運動向量。

現有微機電產品測試上，已由最初單點(single?site)旋轉測試發展到多點(multi?sites)旋轉測試。但測試完成后如需進行其它如掃腳(lead?scan)、卷帶包裝(tape?&?reel)等動作，要通過相應裝置來處理，耗費時間與成本。

發明內容

本發明的目的在于提供一種塢接式測試系統，以改進公知技術中存在的不足。

為實現上述目的，本發明提供的塢接式測試系統，包括：

一第一機臺，包括有一第一本體以及設于該第一本體上的一轉塔以及圍繞該轉塔而設置的一進料槽、一檢視裝置、一料盤及一移行機構，該第一本體包括有一第一塢接面板，該轉塔包括呈角度相間隔排列的復數吸取頭，該移行機構包括有一取放器，該進料槽、該檢視裝置及該料盤分別對應設置于該復數吸取頭下方；以及

一第二機臺，包括有一第二本體以及設于該第二本體上的一測試裝置，該第二本體包括有一第二塢接面板，該第二塢接面板選擇式接合于該第一塢接面板，該測試裝置包括有一承載座；

其中，該移行機構的該取放器移行于一第一位置與一第二位置，當該取放器位于該第一位置時對應于該料盤，當該取放器位于該第二位置時對應于該承載座。

所述的系統，其中，該第一塢接面板與該第二塢接面板由復數銷而定位，并通過復數螺鎖件相互固定。

所述的系統，其中，該第二機臺包括一保護罩，罩蓋住該測試裝置。

所述的系統，其中，該保護罩包括有一對平行延伸段搭接在該第一本體，由一側面視角觀察，該保護罩呈倒L形。

所述的系統，其中，該檢視裝置為一電荷耦合組件。

所述的系統，其中，包括另一第一機臺接合于該第二機臺。

所述的系統，其中，該第一機臺包括另一移行機構與該移行機構相隔設置。

所述的系統，其中，該第一機臺包括一卷帶式包裝機構對應設置于該復數吸取頭下方。

所述的系統，其中，該第一機臺包括一橫移機構與另一料盤，該二料盤皆設置于該橫移機構，該橫移機構移動使該二料盤其中之一正對于該復數吸取頭下方。

本發明提供的塢接式測試系統，能整合更多功能以達到工藝高效率的目的。

本發明提供的塢接式測試系統，能因應不同待測組件類型，快速且方便更換對應的測試裝置，減少設備成本，或者快速轉換于不同組件數量的測試模式。

附圖說明

圖1是本發明第一較佳實施例的塢接式測試系統塢接前示意圖。

圖2是本發明第一較佳實施例的塢接式測試系統塢接后示意圖。

圖3是圖1的第一機臺局部放大圖。

圖4是圖1的第二機臺局部放大圖。

圖5是本發明第二較佳實施例的塢接式測試系統的測試裝置示意圖。

圖6是本發明第三較佳實施例的塢接式測試系統第一運作狀態的示意圖。

圖7是本發明第三較佳實施例的塢接式測試系統第二運作狀態的示意圖。

圖8是本發明第四較佳實施例的塢接式測試系統的平面示意圖。

圖9是本發明第五較佳實施例的塢接式測試系統的第一機臺部分示意圖。

附圖中主要組件符號說明：

第一機臺10、40、41、50、60；

第一本體11，第一塢接面板111；

轉塔12、62，吸取頭121、621；

進料槽13；

檢視裝置14；

料盤15、43、44、52、53、63a、63b；

移行機構16、401、411、501、502、601，取放器161、661；

震動盤17；

包裝裝置18；

第二機臺20、42、51；

第二本體21，第二塢接面板211；

測試裝置22、421、511；

承載座23；

保護罩24，延伸段241；

銷30；