[發明專利]鏡頭檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 201210004192.4
• 申請日: 2012-01-09
• 公開（公告）號: CN103176349A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 談智偉;鄧雯文
• 申請（專利權）人: 九驊科技股份有限公司
• 主分類號: G03B43/00
• 分類號: G03B43/00;G01M11/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 任默聞

1.一種鏡頭檢測方法，適用一鏡頭檢測裝置用以檢測一待測鏡頭，其特征在于，所述的鏡頭檢測方法包含：

檢測所述待測鏡頭，并求得所述待測鏡頭的一第一物距的一檢測特征值；

提供一校正數據；

依據所述檢測特征值及所述校正數據，計算出一第二物距的一模擬特征值。

2.如權利要求1所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述校正數據包含相異物距間的特征值的關系值。

3.如權利要求2所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述的鏡頭檢測方法更包含：依據所述檢測特征值、所述模擬特征值以及至少一等級條件，決定所述待測鏡頭的等級。

4.如權利要求3所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述的鏡頭檢測方法更包含：

提供所述至少一等級條件，并設定所述至少一等級條件與所述待測鏡頭的等級的一對應表，

其中所述決定所述待測鏡頭的等級的步驟更依據所述至少一等級條件與所述待測鏡頭的等級的所述對應表，決定所述待測鏡頭的等級。

5.如權利要求2所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述提供一校正數據的步驟包含：利用所述待測鏡頭的設計規格，以光學模擬方式來求得所述校正數據。

6.如權利要求2所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述提供一校正數據的步驟包含：以多個相異的物距，對一校正用鏡頭進行檢測，再利用所述檢測結果求得所述校正數據。

7.如權利要求2所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述第一物距為有限物距，所述第二物距為無窮物距。

8.如權利要求2所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述第一物距為無窮物距，所述第二物距為有限物距。

9.如權利要求2所述的鏡頭檢測方法，其特征在于，所述檢測特征值為一檢測MTF值或一檢測BFL值，所述模擬特征值為一模擬MTF值或一模擬BFL值。

10.一種鏡頭檢測裝置，用以檢測一待測鏡頭，其特征在于，所述的鏡頭檢測裝置包含：

一主機包含：

一存儲單元，用以存儲一校正數據；及

一處理單元；以及

多個影像感測器，耦接于所述主機，并提供來自所述待測鏡頭的一第一物距的一影像至所述主機的所述處理單元，

其中所述處理單元執行以下步驟：

依據所述影像求得所述待測鏡頭的所述第一物距的一檢測特征值；

讀取所述校正數據；及

依據所述檢測特征值及所述校正數據，計算出一第二物距的一模擬特征值。

11.如權利要求10所述的鏡頭檢測裝置，其特征在于，所述校正數據包含相異物距間的特征值的關系值。

12.如權利要求11所述的鏡頭檢測裝置，其特征在于，所述校正數據為利用所述待測鏡頭的設計規格，以光學模擬方式來求得的數據。

13.如權利要求11所述的鏡頭檢測裝置，其特征在于，所述校正數據為是以多個相異的物距，對一校正用鏡頭進行檢測，再利用所述檢測結果而求得的數據。

14.如權利要求11所述的鏡頭檢測裝置，其特征在于，所述檢測特征值為一檢測MTF值或一檢測BFL值，所述模擬特征值為一模擬MTF值或一模擬BFL值。

15.如權利要求11所述的鏡頭檢測裝置，其特征在于，所述第一物距為有限物距，所述第二物距為無窮物距。