[發明專利]一種平面型雙向觸發二極管芯片制造方法有效
申請號: | 201210004060.1 | 申請日: | 2012-01-09 |
公開(公告)號: | CN102522333A | 公開(公告)日: | 2012-06-27 |
發明(設計)人: | 薛列龍 | 申請(專利權)人: | 薛列龍 |
主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329 |
代理公司: | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 225000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 一種 平面 雙向 觸發 二極管 芯片 制造 方法 | ||
1.一種平面型雙向觸發二極管芯片制造方法,以厚度100-300μm的P型晶片為原料,在晶片表面生長氧化層、光刻擴散窗口和將晶片切割為芯片的工序,其特征在于,在所述光刻擴散窗口和將晶片切割為芯片的工序之間包括如下工序:
1)擴散窗口下沉;在擴散窗口中注入混酸,對擴散窗口中的晶片表面進行腐蝕,腐蝕深度以所述晶片表面為基準面,下沉5~40μm;
2)磷擴散;將上步驟制得的晶片清洗,再放入擴散爐中進行磷擴散;在晶片本體縱截面上形成N+、P、N+區域,同時在所述晶片本體氧化層表面下形成反型層;
3)去除表面反型層;第一、去除上步驟制得晶片表面的氧化層;第二、去除所述晶片本體氧化層表面下形成反型層;由于步驟1)擴散窗口下沉,在前述第二步去除反型層時,所述下沉的擴散窗口會進一步下沉,形成下沉窗口;
4)高溫驅進雜質并生長二氧化硅鈍化膜層;在1000-1270℃環境下生長一層二氧化硅鈍化膜層以保護PN+結;在此溫度下,同時驅進磷雜質,推PN+結深至40-80μm;由于均勻生長二氧化硅鈍化膜層,在所述生長有二氧化硅鈍化膜層的本體表面仍顯現下沉窗口輪廓;
5)光刻金屬電極窗口;沿所述下沉窗口輪廓,進行金屬電極窗口光刻;在晶片表面形成金屬電極窗口;
6)鍍鎳金;在金屬電極窗口底面鍍上鎳金層,作為金屬電極。
2.根據權利要求1所述的一種平面型雙向觸發二極管芯片制造方法,其特征在于,還包括在所述金屬電極上設置凸點的工序,所述設置凸點的工序為:在所述金屬電極表面增設凸出于晶片表面的由焊錫凝固形成的凸點。
3.根據權利要求1所述的一種平面型雙向觸發二極管芯片制造方法,其特征在于,還包括在所述金屬電極上設置凸點的工序,所述設置凸點的工序為:在所述金屬電極表面增設凸出于晶片表面的由電鍍銀形成的凸點。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造