[發(fā)明專利]鍵盤自動測試方法及應(yīng)用其的鍵盤自動測試系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210004035.3 | 申請日: | 2012-01-06 | 
| 公開(公告)號: | CN103176879A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 | 
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曹文俊;曹育瑋 | 申請(專利權(quán))人: | 緯創(chuàng)資通股份有限公司 | 
| 主分類號: | G06F11/267 | 分類號: | G06F11/267 | 
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 史新宏 | 
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 | 
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鍵盤 自動 測試 方法 應(yīng)用 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種鍵盤自動測試方法及應(yīng)用其的鍵盤自動系統(tǒng),特別是涉及一種鍵盤自動測試方法及應(yīng)用其的鍵盤自動系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在鍵盤裝置的制造過程中必須經(jīng)過測試以確保鍵盤裝置可正常工作。鍵盤裝置的測試包括對鍵盤裝置的電路板的測試以及對完成的鍵盤裝置進行完整的測試。這些測試是為了檢查鍵盤上的按鍵在按壓后是否可正常地輸出掃描碼。
然而,傳統(tǒng)的鍵盤測試都是以手動按壓鍵盤上的按鍵來測試,這樣就增加了測試時間及人力成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種鍵盤自動測試方法及應(yīng)用其的鍵盤自動系統(tǒng),可自動測試鍵盤功能,以節(jié)省測試時間及人力成本。
根據(jù)本發(fā)明一實施例,提出一種鍵盤自動測試方法。該鍵盤自動測試方法包括以下步驟。一鍵盤測試單元輸出一按鍵測試指令給一鍵盤控制器,按鍵測試指令代表一鍵盤的一觸發(fā)件被觸發(fā);鍵盤控制器產(chǎn)生對應(yīng)被觸發(fā)的一對應(yīng)碼;以及,鍵盤測試單元判斷對應(yīng)碼與被觸發(fā)的對應(yīng)關(guān)系是否正確。
根據(jù)本發(fā)明另一實施例,提出一種鍵盤自動系統(tǒng)。鍵盤自動測試系統(tǒng)包括一鍵盤控制器及一鍵盤測試單元。鍵盤測試單元輸出一按鍵測試指令給鍵盤控制器,按鍵測試指令代表一鍵盤的一觸發(fā)件被觸發(fā)。其中,鍵盤控制器產(chǎn)生對應(yīng)被觸發(fā)的一對應(yīng)碼,鍵盤測試單元判斷對應(yīng)碼與被觸發(fā)的對應(yīng)關(guān)系是否正確。
為了對本發(fā)明的上述及其他方面有更佳的了解,下文特舉實施例,并結(jié)合附圖詳細說明如下。
附圖說明
圖1繪示依照本發(fā)明一實施例的鍵盤自動測試系統(tǒng)的功能方塊圖。
圖2繪示依照本發(fā)明一實施例的鍵盤自動測試方法的流程圖。
圖3繪示依照本發(fā)明另一實施例的鍵盤自動測試系統(tǒng)的功能方塊圖。
圖4繪示依照本發(fā)明又一實施例的鍵盤自動測試系統(tǒng)的功能方塊圖。
附圖符號說明
100:鍵盤自動測試系統(tǒng)
110:鍵盤控制器
111:寄存器
120:鍵盤測試單元
130:南橋芯片
140:基本輸出輸入系統(tǒng)
150:鍵盤
160:中央處理器
170:無線網(wǎng)絡(luò)模塊
180:揚聲器
AP:應(yīng)用程序
C1:對應(yīng)碼
Fn:第一按鍵
F11:第二按鍵
H:熱鍵組合
P:單鍵
S1:按鍵測試指令
S2:鍵盤禁能指令
S11:第一按鍵測試指令
S12:第二按鍵測試指令
W1:無線網(wǎng)絡(luò)熱鍵
具體實施方式
請參照圖1,其繪示依照本發(fā)明一實施例的鍵盤自動測試系統(tǒng)的功能方塊圖。鍵盤自動測試系統(tǒng)100包括鍵盤控制器110、鍵盤測試單元120、南橋芯片130、基本輸出輸入系統(tǒng)(Basic?Input/Output?System,BIOS)140及中央處理器(central?processing?unit,CPU)160。
中央處理器160可通過南橋芯片130與基本輸出輸入系統(tǒng)140、鍵盤控制器(Keyboard?Controller,KBC)110及其它周邊元件進行通訊。
基本輸出輸入系統(tǒng)140的程序碼可載入南橋芯片130內(nèi),使鍵盤控制器110與鍵盤測試單元120形同與基本輸出輸入系統(tǒng)140通訊。
鍵盤測試單元120例如是集成電路,其可執(zhí)行應(yīng)用程序AP;或者,鍵盤測試單元120是一固件(Firmwave)。一實施例中,鍵盤測試單元120可以是獨立于中央處理器160配置(但可與中央處理器160電性連接),或者,鍵盤測試單元120可整合于中央處理器160中。
鍵盤測試單元120輸出一按鍵測試指令S1給鍵盤控制器110,按鍵測試指令S1代表鍵盤150的一觸發(fā)件被觸發(fā)。此處的觸發(fā)件包括鍵盤150上的按鍵(單鍵或熱鍵組合)、開關(guān)或其它型式的觸發(fā)元件,通過觸發(fā)此觸發(fā)件,可執(zhí)行文書處理、致能/禁能無線網(wǎng)絡(luò)模塊、控制揚聲器音量及控制周邊元件等功能。
鍵盤控制器110產(chǎn)生對應(yīng)此觸發(fā)件的對應(yīng)碼C1。鍵盤測試單元120判斷對應(yīng)碼C1與觸發(fā)件的對應(yīng)關(guān)系是否正確。如此一來,通過本實施例的鍵盤自動測試系統(tǒng)100,可自動完成對鍵盤的觸發(fā)件的測試。
鍵盤控制器110電性連接于鍵盤150。鍵盤控制器110包括寄存器(output?buffer)111,鍵盤控制器110所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)(如對應(yīng)碼C1)可寄存于寄存器111內(nèi)。
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