[發(fā)明專利]管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù)無效
申請?zhí)枺?/td> | 201210003526.6 | 申請日: | 2012-01-06 |
公開(公告)號: | CN102517555A | 公開(公告)日: | 2012-06-27 |
發(fā)明(設(shè)計)人: | 李德杰 | 申請(專利權(quán))人: | 李德杰 |
主分類號: | C23C14/35 | 分類號: | C23C14/35 |
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摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 鍍膜 設(shè)備 技術(shù) | ||
1.管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:采用磁控濺射鍍膜技術(shù),以被鍍管的管壁為真空腔的側(cè)壁,兩端進(jìn)行真空密封,并設(shè)置排氣口和充氣管道;放電陰極為圓柱狀,與被鍍管同軸設(shè)置,其內(nèi)部水冷,但不在其中設(shè)置磁體,陰極外表面設(shè)置圓柱靶材,與陰極緊配合,或者陰極外表面直接作為靶材;磁體設(shè)置在被鍍管的外部,即處于大氣中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:所述的磁體為空心圓柱結(jié)構(gòu),與被鍍管同軸設(shè)置,產(chǎn)生軸向磁場,鍍膜過程中磁體沿軸向移動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:所述的磁體為長跑道形結(jié)構(gòu),磁體長度與被鍍管長度相當(dāng),除兩端外,產(chǎn)生基本與軸向垂直的磁場,鍍膜過程中,磁體整體繞被鍍管旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)軸與被鍍管中心軸線相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2和3所述的管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:如果被鍍管為沒有磁性的金屬管,則被鍍管為陽極。
5.如果被鍍管為絕緣管,則被鍍管內(nèi)與軸向平行設(shè)置細(xì)桿狀或細(xì)管狀金屬陽極1根或多根。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:所述的細(xì)管狀金屬陽極可同時作為充氣管道,不再另外設(shè)置充氣管道;在細(xì)管狀陽極側(cè)壁上開進(jìn)氣孔。
7.根據(jù)權(quán)利要求1、2所述的管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:采用直流磁控濺射、射頻磁控濺射或脈沖磁控濺射在被鍍管內(nèi)壁上沉積薄膜,改變空心圓柱形磁體的半徑,調(diào)整陰極表面附近磁場強度;沉積過程中,磁體沿軸線移動,放電區(qū)域也跟著移動,薄膜被均勻鍍制在被鍍管的內(nèi)表面上。
8.根據(jù)權(quán)利要求1、3所述的管內(nèi)鍍膜設(shè)備及鍍膜技術(shù),其特征在于:采用直流磁控濺射、射頻磁控濺射或脈沖磁控濺射在被鍍管內(nèi)壁上沉積薄膜,調(diào)整磁體與被鍍管外表面的間距,使得橫向磁場最強處位于陰極表面附近;沉積過程中,磁體繞被鍍管勻速旋轉(zhuǎn),放電區(qū)域也跟著旋轉(zhuǎn),薄膜被均勻鍍制在被鍍管的內(nèi)表面上。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
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