[發(fā)明專利]光學(xué)視野調(diào)整方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210003340.0
• 申請(qǐng)日: 2012-01-06
• 公開（公告）號(hào): CN103196831A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高志豪;方志恒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 由田信息技術(shù)(上海)有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/01
• 分類號(hào): G01N21/01;G02B7/182
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光學(xué)視野調(diào)整方法，應(yīng)用于光學(xué)檢測(cè)設(shè)備中，包括：光電耦合器，透鏡位于光電耦合器前方，其特征在于：發(fā)射光源投射于反射組件后反射至待測(cè)物上，而后入射至透鏡及光電耦合器，透鏡及光電耦合器與法線形成一第一夾角，反射組件反射至待測(cè)物之反射線與法線形成一第三夾角，反射組件與法線平行延伸線形成一第二夾角，透過反射組件位置校準(zhǔn)程序進(jìn)行發(fā)射光源視野明暗度調(diào)整，其調(diào)整方式系將反射組件所夾之第三夾角進(jìn)行水平與垂直方向之位置與角度移動(dòng)調(diào)整。

2.如權(quán)利要求1所述的處理系統(tǒng)，其特征在于第三夾角位移角度計(jì)算公式為(90度-兩倍第二夾角)＝第三夾角。

3.如權(quán)利要求1所述的處理系統(tǒng)，其特征在于第三夾角位移角度計(jì)算公式數(shù)學(xué)方程式為(90度-2*θ2)＝θ3。

4.如權(quán)利要求1所述的處理系統(tǒng)，其特征在于反射組件系選用鏡片材質(zhì)組成。

5.如權(quán)利要求1所述的處理系統(tǒng)，其特征在于第一夾角為取像系統(tǒng)調(diào)整完成之固定值。

6.如權(quán)利要求1所述的處理系統(tǒng)，其特征在于待測(cè)物水平表面系與法線互相垂直。