[發明專利]射頻讀卡器的測試系統及方法有效
申請號: | 201210003088.3 | 申請日: | 2012-01-06 |
公開(公告)號: | CN103199943A | 公開(公告)日: | 2013-07-10 |
發明(設計)人: | 張偉 | 申請(專利權)人: | 國民技術股份有限公司 |
主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00 |
代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立 |
地址: | 518057 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 射頻 讀卡器 測試 系統 方法 | ||
1.一種射頻讀卡器的測試系統,其特征在于,包括:
????屏蔽裝置,用于容納射頻讀卡器和測試及調整裝置,屏蔽測試過程中外界信號對所述射頻讀卡器所發射的低頻信號的干擾;
????測試及調整裝置,用于對所述射頻讀卡器發射的低頻信號強度進行測試,并根據測試結果調整所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率;
????通信終端,用于為所述射頻讀卡器供電,并顯示所述測試結果。
2.根據權利要求1所述的射頻讀卡器的測試系統,?其特征在于,所述測試及調整裝置包括:?
低頻接收模塊,用于接收所述射頻讀卡器發射的低頻信號;
主控模塊,用于測試所述低頻接收模塊所接收的低頻信號強度,并根據測試結果生成低頻信號發射功率調整信息;
射頻通信模塊,用于通過射頻通道發送所述低頻信號發射功率調整信息;
電源模塊,用于為所述低頻接收模塊、所述主控模塊和所述射頻通信模塊供電。
3.根據權利要求2所述的射頻讀卡器的測試系統,?其特征在于,所述主控模塊包括:
第一判斷單元,用于比較所述低頻接收模塊所接收的低頻信號強度與標準強度的差值與第一門限、第二門限的大小,所述第一門限大于所述第二門限;
第二判斷單元,用于在所述低頻接收模塊所接收的低頻信號強度與標準強度的差值小于所述第一門限并且大于所述第二門限時,比較所述低頻信號強度與所述標準強度的大小;
????調整單元,用于在所述低頻信號強度大于所述標準強度時生成降低低頻信號發射功率信息,以及在所述低頻信號強度小于所述標準強度時生成提高低頻信號發射功率信息,并根據所述降低低頻信號發射功率信息或所述提高低頻信號發射功率信息調整所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率。
4.根據權利要求2所述的射頻讀卡器的測試系統,?其特征在于,?
所述低頻接收模塊包括:
PCB線圈,用于感應所述射頻讀卡器發射的低頻信號;
低頻放大器,用于對所述PCB線圈感應到的所述低頻信號進行放大,輸出放大后的低頻信號給所述A/D轉換芯片;
A/D轉換芯片,用于將所述放大后的低頻信號轉換為數字信號;
所述射頻通信模塊包括:
射頻通信芯片,用于生成射頻信號,所述射頻信號中攜帶所述低頻信號發射功率調整信息;
射頻天線,用于發射所述射頻信號。
5.根據權利要求1所述的射頻讀卡器的測試系統,?其特征在于,?所述屏蔽裝置為屏蔽箱,所述屏蔽箱的內壁覆蓋有吸波材料。
6.根據權利要求1所述的射頻讀卡器的測試系統,?其特征在于,所述通信終端為計算機。
7.根據權利要求1所述的射頻讀卡器的測試系統,?其特征在于,?所述測試及調整裝置通過串口-USB接口連接線與所述通信終端連接。
8.一種射頻讀卡器的測試方法,其特征在于,包括:
????將待測試的射頻讀卡器置于屏蔽環境中;
對置于所述屏蔽環境中的所述射頻讀卡器發射的低頻信號強度進行測試;
根據測試結果調整所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率。
9.根據權利要求8所述的射頻讀卡器的測試方法,?其特征在于,?所述根據測試結果調整所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率包括:
比較所述低頻信號強度與標準強度的差值與第一門限、第二門限的大小,所述第一門限大于所述第二門限;
????若所述低頻信號強度與標準強度的差值小于所述第一門限并且大于所述第二門限,則比較所述低頻信號強度與所述標準強度的大小。
10.根據權利要求9所述的射頻讀卡器的測試方法,?其特征在于,?所述根據測試結果調整所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率還包括:
若所述低頻信號強度大于所述標準強度,則降低所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率,若所述低頻信號強度小于所述標準強度,則提高所述射頻讀卡器的低頻信號發射功率。
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