[發明專利]功率三極管芯片薄片制造方法無效
| 申請號: | 201210001574.1 | 申請日: | 2012-01-05 |
| 公開(公告)號: | CN102543728A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發明(設計)人: | 王友鑄;楊曉智;李建球 | 申請(專利權)人: | 深圳市鵬微科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/331 | 分類號: | H01L21/331;H01L21/324 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 黃韌敏 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市福田*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 功率 三極管 芯片 薄片 制造 方法 | ||
1.一種功率三極管芯片薄片制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
在芯片加工正面金屬電極形成后,用減薄設備對芯片背面進行減薄處理;
將所述芯片背面注入濃磷,并進行背面加熱退火處理;
對所述芯片背面進行金屬化處理。
2.根據權利要求1所述的薄片制造方法,其特征在于,所述對所述芯片背面進行金屬化處理步驟包括:將所述芯片背面用氫氟酸進行擦拭腐蝕,去除所述芯片背面的氧化層。
3.根據權利要求2所述的薄片制造方法,其特征在于,所述對所述芯片背面進行金屬化處理步驟之后進一步包括:對所述芯片背面進行清洗處理,然后對所述芯片背面進行金屬蒸發處理、測試和劃片。
4.根據權利要求1所述的薄片制造方法,其特征在于,所述將所述芯片背面進行加熱退火處理步驟中,所述芯片背面通過紅外加熱設備進行加熱。
5.根據權利要求1所述的薄片制造方法,其特征在于,所述芯片進行減薄處理后的厚度為70um~100um。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





