[發明專利]一種射線式測厚儀及其校正方法

有效

• 申請號: 201210001158.1
• 申請日: 2012-01-04
• 公開（公告）號: CN102564361A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 李小鋼;湯建民;由菁菁;張思聰
• 申請（專利權）人: 北京金自天正智能控制股份有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 北京永創新實專利事務所 11121
• 代理人: 趙文利

1.一種射線式測厚儀，其特征在于，包括射線源、射線探測器、前置放大電路板、控制柜、終端顯示與操作裝置、C型架；

射線源設置在C型架的喉隙下部，射線探測器設置在C型架的喉隙上部，被測金屬帶材從C型架喉隙處通過，前置放大電路板連接控制柜，控制柜連接終端顯示與操作裝置，用于進行厚度計算和顯示以及接受操作人員的指令；射線源發出射線，穿過被測金屬帶材后，射線探測器接收射線，將射線轉換為電信號，輸出電信號至前置放大電路板，前置放大電路板進行放大處理后，將處理后的電信號輸出至控制柜，控制柜內部的測量電路對電信號進行處理，得到測量電壓，控制柜的計算機測量系統對測量電壓進行處理，得到被測金屬帶材的標定曲線，根據標定曲線的數據計算出被測金屬帶材的厚度，并輸出至終端顯示與操作裝置進行顯示。

2.根據權利要求1所述的一種射線式測厚儀，其特征在于，還包括接線箱，前置放大電路板、C型架、水冷箱通過現場接線箱連接控制柜。

3.根據權利要求1或者2所述的一種射線式測厚儀，其特征在于，還包括水冷箱，水冷箱為C型架中需要冷卻的部分提供循環水冷卻。

4.一種射線式測厚儀的校正方法，其特征在于，包括以下幾個步驟：

步驟一：進行原始標定曲線；

在測厚儀投入生產使用前進行一次標定，得到主標定曲線，并同時生成副標定曲線，主標定曲線用于進行快速精度校正時的基準曲線，副標定曲線用于測厚儀在測量中計算厚度時使用；

步驟二：獲取校正系數K；

當測厚儀處于全輻射狀態，沒有被測金屬帶材時作為校正工作開始的時刻，測量出此時測量電路的輸出電壓Uo’，然后與主標定曲線中零厚度值所對應的電壓Uo進行比較，得到校正系數K，K＝Uo’/Uo；

在測厚儀處于全輻射狀態時，即被測金屬帶材厚度為零厚度值時，對應的測量電路的輸出電壓值大于0V；

步驟三：當產生誤差電壓ΔU時候，進行校正；

用校正系數K，對副標定曲線中各點厚度值對應的電壓值進行逐點的修正，即用K去乘以主標定曲線中各點厚度值對應的電壓值，其乘積作為校正后副標定曲線中各標定點厚度值對應的電壓值，從而得到新的副標定曲線，校正完成。

5.一種射線式測厚儀的校正方法，其特征在于，具體為：在測厚儀工作時，根據操作人員的工作方式設置及指令，進行快速精度校正的工作，測厚儀工作程序運行時，當進入到校正精度程序時，首先會判斷是否是自動方式狀態，如是，則進一步去判斷C型架喉隙處有無被測帶材，如不是，則去判斷操作人員有無下達進行精度校正的指令；如果沒有得到操作人員進行測厚儀精度校正的指令，則退出精度校正程序，如果得到了指令，則去進一步判斷C型架喉隙處有無被測帶材；當C型架喉隙處有帶材時，不滿足校正的條件，則退出校正程序；當C型架喉隙處沒有帶材時，則進入測量采樣程序，得到了全輻射狀態下的測量電路的輸出電壓Ui后，判斷該電壓值是否位于Ui的最大值于最小值之間；如果不是，則退出校正程序，如果是，則去取主標定曲線中對應零厚度值的電壓值Uo，然后求得修正系數K，去修正副標定曲線中各標定點厚度值對應的電壓值，得到新的副標定曲線，并存儲，然后退出校正程序；新的副標定曲線將作為測厚儀計算被測帶材厚度的依據。