[發明專利]電容檢測裝置

有效

• 申請號: 201210000835.8
• 申請日: 2012-01-04
• 公開（公告）號: CN102590635A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 尾屋隼一郎
• 申請（專利權）人: 阿爾卑斯電氣株式會社
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉建

1.一種電容檢測裝置，其特征在于，

具備：

靜電電容元件，其根據周圍的狀況，使靜電電容發生變化；

電荷讀取機構，其讀取所述靜電電容元件的電荷；

積分器，其對自所述電荷讀取機構傳輸的讀取電荷進行積分而轉換為電壓信號；

偏移調整電路，其從自所述電荷讀取機構向所述積分器傳輸的電荷中去除偏移；和

控制電路，其控制所述偏移調整電路的動作，

所述偏移調整電路具備：

可變電容元件，其由多個電容元件構成，且通過對被并聯連接于電荷傳輸線路的電容元件個數進行切換來設定為規定電容值，其中，所述電荷傳輸線路形成在所述電荷讀取機構與所述積分器之間；和

調整用電容元件，其相對于所述電荷傳輸線路與所述可變電容元件并聯連接，且具有與構成所述可變電容元件的電容元件的最小值對應的電容值，

所述控制電路，

驅動所述可變電容元件，以使得每當所述電荷讀取機構向所述積分器進行電荷傳輸時，就由所述可變電容元件進行偏移去除；且驅動所述調整用電容元件，以使得在M次反復由所述可變電容元件進行偏移消除的期間，僅N次由所述調整用電容器進行偏移去除，其中，M＞N，M、N為自然數。

2.根據權利要求1所述的電容檢測裝置，其特征在于，

所述可變電容元件與所述調整用電容元件形成在一個集成電路內。

3.根據權利要求1所述的電容檢測裝置，其特征在于，

所述可變電容元件的驅動次數M和所述調整用電容元件的驅動次數N被預先確定，以使得由所述調整用電容元件來吸收由所述可變電容元件所致的偏移誤差。