[其他]光拾取裝置以及光盤裝置

有效

• 申請號: 201190000742.4
• 申請日: 2011-09-13
• 公開（公告）號: CN203276837U
• 公開（公告）日: 2013-11-06
• 發明（設計）人: 中原宏勛;的崎俊哉;竹下伸夫
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: G11B7/123
• 分類號: G11B7/123;G11B7/1275;G11B7/1362
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;馬建軍

1.一種光拾取裝置，其特征在于，該光拾取裝置具有：?

第1光集成元件，其包含第1受光元件和射出第1振蕩波長的激光的第1激光光源；?

第2光集成元件，其包含第2受光元件和射出長于所述第1振蕩波長的第2振蕩波長的激光的第2激光光源；?

光束分離器，其具有第1光學面、第2光學面和第3光學面，引導從所述第1光集成元件經過第1光路入射到所述第1光學面的所述第1振蕩波長的激光使其從所述第3光學面出射，并且，引導從所述第2光集成元件經過第2光路入射到所述第2光學面的所述第2振蕩波長的激光使其從所述第3光學面出射；?

平行光學系統，其將從所述光束分離器的所述第3光學面出射的所述第1振蕩波長的激光轉換成第1平行光，并且，將從所述第3光學面出射的所述第2振蕩波長的激光轉換成第2平行光；?

會聚光學系統，其將從所述平行光學系統射出的所述第1平行光會聚到光盤，并且，將從所述平行光學系統射出的所述第2平行光會聚到所述光盤；?

負透鏡，其配置在所述第1光路中，具有使從所述第1光集成元件射出的所述第1振蕩波長的激光發散的負屈光力；以及?

全反射鏡，其配置在所述第1光路中的所述負透鏡與所述第1光集成元件之間，使從所述第1光集成元件射出的所述第1振蕩波長的激光朝所述第1光學面的方向反射，?

由所述光盤反射回來的返回光經過所述會聚光學系統和所述平行光學系統入射到所述光束分離器的所述第3光學面，?

所述光束分離器引導所述返回光中的所述第1振蕩波長的激光使其從所述第1光學面出射，并且，引導所述返回光中的所述第2振蕩波長的激光使其從所述第2光學面出射，?

所述第1光集成元件接收從所述第1光學面出射且經過所述負透鏡和所述全反射鏡而入射的所述第1振蕩波長的激光，?

所述第2光集成元件接收從所述第2光學面出射的所述第2振蕩波長的激光，?

所述平行光學系統的焦距被設定成使得與所述第2振蕩波長的激光對應的邊緣光強度在第1預定范圍內最小的值，?

所述負透鏡的焦距被設定成使得與所述第1振蕩波長的激光對應的邊緣光強度在第2預定范圍內最小的值，?

所述第1光集成元件配置在由所述全反射鏡彎折后的所述第1光路的端部，并且與所述第2光集成元件相鄰配置。?

2.根據權利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，?

所述第1光集成元件的光軸與所述第2光集成元件的光軸相互平行。?

3.根據權利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于，?

在設與所述第2振蕩波長的激光對應的邊緣光強度為I_RIM，使光入射到所述會聚光學系統的所述平行光學系統的焦距為f，所述第2激光光源的光束擴散角為θ，其單位為°，所述會聚光學系統的光瞳直徑為比例系數為K時，所述平行光學系統的焦距f由以下的式子給出，?

4.根據權利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于，?

所述第1預定范圍內的最小值為55%，?

所述第2預定范圍內的最小值為60%。?

5.根據權利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于，?

所述第1振蕩波長為405nm，?

所述第2振蕩波長為650nm。?

6.根據權利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于，?

所述會聚光學系統包含所述第1振蕩波長的激光和所述第2振蕩波長的激光共用的物鏡，?

所述物鏡對于所述第1振蕩波長的激光具有第1數值孔徑，并且，對于所述第2振蕩波長的激光具有比所述第1數值孔徑小的第2數值孔徑。?

7.根據權利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于，?

所述光束分離器使入射到所述第1光學面的所述第1振蕩波長的激光朝所述平行光學系統的方向反射，使入射到所述第2光學面的所述第2振蕩波長的激光透過。?

8.根據權利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于，?

所述光束分離器使入射到所述第2光學面的所述第2振蕩波長的激光朝所述平行光學系統的方向反射，使入射到所述第1光學面的所述第1振蕩波長的激光透過。?

9.一種光盤裝置，其特征在于，該光盤裝置具有權利要求1或2所述的光拾取裝置。?

10.根據權利要求9所述的光盤裝置，其特征在于，?

該光盤裝置還具有信號再現電路，該信號再現電路根據從所述光拾取裝置的第1受光元件和第2受光元件中的任意一方輸出的檢測信號，對所述光盤的記錄信息進行再現。?