[發(fā)明專利]針對多無線設備的無線干擾測試

有效

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• 申請日: 2011-11-16
• 公開（公告）號: CN103947138B
• 公開（公告）日: 2017-02-22
• 發(fā)明（設計）人: 托爾比約恩·埃爾夫斯特倫
• 申請（專利權）人: 瑞典愛立信有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B1/40;H04B15/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 趙偉

技術領域

本發(fā)明涉及用于對被設計用于在平臺中工作的無線模塊進行測試的方法。更具體地，本發(fā)明涉及用于針對帶內自干擾在各種平臺中對無線模塊進行測試的自動化方法以及這些模塊自身。

背景技術

射頻干擾RFI性能對于實現(xiàn)在諸如3GPP和IEEE等的標準化組織中所定義的期望無線性能是必不可少的。

將基于無線的系統(tǒng)并入消費者電子設備中要求用于評估自身生成的射頻干擾(RFI)的簡單和快速的方法。諸如WLAN(無線局域網)、WWAN(無線廣域網)和GNSS(全球導航衛(wèi)星系統(tǒng))等的無線技術將被包括在諸如電話、筆記本計算機、平板計算機、游戲機和范圍廣泛的機器對機器(M2M)設備等的各種設備中。

當若干無線系統(tǒng)并入一個設備中時，它們將通過生成雜散發(fā)射而相互干擾。如果源于RFI的噪聲落入受害方接收機帶寬內，則BER(比特錯誤率)性能將劣化，導致更少有效吞吐量或其他負面影響。

現(xiàn)代筆記本計算機包括若干模塊或組件，例如顯示器、主機、硬盤驅動器、WLAN和WWAN。對于無線接入系統(tǒng)模塊，使用具有標準化機械和電接口的自包含的外觀規(guī)格。

無線設備通常以安裝在主機處的插槽連接器中的PCI(外圍控制器接口)快捷迷你卡的外觀規(guī)格來實現(xiàn)。模塊還可以直接焊接在印刷電路板(PCB)上或作為經由線纜連接到主機的子PCB放置。上述外觀規(guī)格使得以較低成本向特定型號添加擴展功能變得簡單。

然而，針對消費者電子設備的設計階段通常是有限的。一般而言，設備使用安裝在有限空間中的標準組件。每個組件必須滿足針對特定組件的指定無線性能要求。當若干組件靠近放置并通常使用共享天線時，它們將相互干擾。噪聲是從尖時鐘沿、來自共置無線器件的帶外雜散發(fā)射和來自不同時鐘源的諧波生成的。來自共置無線器件的帶外雜散發(fā)射還將把帶內噪聲添加到給定接收機的接收機頻帶內。來自時鐘源的諧波和RF載波信號也是自干擾的潛在來源。微處理器、隨機存取存儲器和高速總線控制器(僅舉幾例)是生成無線干擾的典型組件。來自這些類型的設備的噪聲電平不是靜態(tài)的。它們可以例如根據處理器負荷和存儲器存取容量、到WWAN基站的距離而變化。

自生成干擾等級是基于典型的使用情況針對每個無線子系統(tǒng)進行測量的。特殊測試裝置可以用于評估性能劣化。在這種測試中，信號仿真器(例如基站仿真器)可以用作針對受害方接收機的信號源，如圖1所示。

針對OTA(空中下載技術)測試，諸如CTIA和3GPP等的若干標準化組織需要消聲室來測量TRP(總輻射功率)和TRS(總輻射靈敏度)。

根據2011年10月25日從互聯(lián)網下載的“Bluetest?SE，Testing?communication?System，Performance?in?reverberation?chamber，White?paper；BTW-002Rev?A，www.bluetest.se”(http：//www.bluetest.se/download/BTW-002_System_test_in_RC_A.pdf)，已知用于評估性能劣化的混響室測試裝置。混響室構成了消聲室的備選。

發(fā)明內容

為了能夠減少上市時間，本發(fā)明人已經認識到對節(jié)約成本的RFI測試的需要，并具體地認識到對自生成RFI的評估的需要。

本發(fā)明的第一目的是提出用于測試RFI的方法。

提供了一種用于測試平臺中的至少一個模塊的無線屬性的方法，其中，所述模塊包括一個或多個元件，并且所述平臺包括一個或多個元件，元件可以包括接收機，每個元件潛在地易受來自一個或多個其他元件的干擾的影響。所述方法包括以下步驟：

-導入多個元件的標識和具有能夠測量并傳送無線參數(shù)的接收機的元件的標識；

其中，針對每個已標識的接收機，

-啟用所述接收機，

-執(zhí)行并存儲禁用其他已標識的元件的無線參數(shù)測量，用于參考電平測量；并且針對與已標識的接收機不同的每個其他已標識的元件，

-執(zhí)行并存儲啟用與已標識的接收機不同的另一元件的另一無線參數(shù)測量，用于給定另一啟用元件關于已標識的啟用的接收機的干擾電平測量。

本發(fā)明的另一目的是闡述用于節(jié)約成本的RFI測試的計算機程序產品。