[發明專利]確定非晶質合金中的結晶性的非破壞性方法有效
| 申請號: | 201180072662.4 | 申請日: | 2011-08-05 |
| 公開(公告)號: | CN103748456A | 公開(公告)日: | 2014-04-23 |
| 發明(設計)人: | S·P·扎德斯基;C·D·普雷斯特;T·A·瓦尼烏克 | 申請(專利權)人: | 科盧斯博知識產權有限公司;蘋果公司 |
| 主分類號: | G01N27/14 | 分類號: | G01N27/14;G01N33/20;G01N33/38 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 邊海梅 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 確定 非晶質 合金 中的 結晶 破壞性 方法 | ||
1.一種確定未知結晶程度的方法,包括:
構造包括多條參考曲線的主曲線圖,每條參考曲線表示具有某種化學成分和各種預定的結晶程度的多個參考合金樣本之一的電阻系數與溫度之間的關系;
對于具有所述化學成分和所述未知結晶程度的合金樣品,獲得表示其電阻系數與溫度之間的關系的曲線;以及
通過將所述曲線與所述主曲線圖相比較來確定所述未知結晶程度。
2.如權利要求1所述的方法,其中,所述合金包括Zr、Hf、Ti、Cu、Ni、Pt、Pd、Fe、Mg、Au、La、Ag、Al、Mo、Nb、Be或者其組合。
3.如權利要求1所述的方法,其中,獲得所述合金樣品的曲線的步驟是通過非破壞性技術執行的。
4.如權利要求1所述的方法,其中,構造步驟還包括通過破壞性技術對于所述多個中的每一個測量所述關系。
5.如權利要求1所述的方法,其中,構造步驟還包括相對于表示完全非晶質的參考合金樣本的參考曲線來正規化每條參考曲線。
6.如權利要求1所述的方法,其中,所述溫度的范圍是從77K到高于所述合金的結晶溫度至少大約100K。
7.如權利要求1所述的方法,其中,確定步驟還包括將所述合金樣品的曲線疊加到所述主曲線圖上。
8.如權利要求1所述的方法,其中,確定步驟還包括在預定溫度處將所述合金樣品的曲線與所述主曲線圖相比較。
9.如權利要求1所述的方法,還包括為具有另一種不同化學成分的多個參考合金樣本構造第二主曲線圖。
10.如權利要求1所述的方法,其中,所述方法是在包括以下各項中的至少一個的裝置中執行的:萬用表、樣本架、電極;加熱器;溫度控制器;電阻測量系統;計算機;以及顯示器。
11.一種確定未知結晶程度的方法,包括:
提供具有某種化學成分的多個參考合金樣本,所述多個中的每一個具有預定的結晶程度;
對于所述多個中的每一個,測量電阻系數與溫度之間的關系以獲得表示該關系的參考曲線;
構造包括至少一些所述參考曲線的主曲線圖;
提供具有所述化學成分和所述未知結晶程度的合金樣品;
對于所述樣品,測量電阻系數與溫度之間的關系以獲得表示該關系的曲線;以及
通過將所述曲線與所述主曲線圖相比較來確定所述樣品的所述未知結晶程度。
12.如權利要求11所述的方法,其中,對于所述多個中的每一個進行測量的步驟還包括在對該參考合金樣本加熱的同時測量電阻系數。
13.如權利要求11所述的方法,其中,對于所述多個中的每一個進行測量的步驟還包括通過電阻加熱、感應加熱、傳導加熱、輻射加熱來對參考樣本加熱。
14.如權利要求11所述的方法,其中,對于所述多個中的每一個進行測量的步驟是由以下各項中的至少一種來執行的:彎曲、X射線照相術、X射線衍射法、蝕刻、光顯微鏡法、電子顯微鏡法、比重測量、硬度測量、斷裂韌性測量、拉伸測試測量、以及差示掃描量熱法。
15.如權利要求11所述的方法,其中,對于所述合金樣品進行測量的步驟是通過用四探頭技術、感應技術或其組合測量其電阻系數來執行的。
16.如權利要求11所述的方法,其中,確定步驟包括在預定溫度處將所述曲線與所述主曲線圖相比較。
17.如權利要求11所述的方法,其中,對于所述樣品進行測量的步驟在所述樣品上的不同位置處重復。
18.如權利要求11所述的方法,還包括在所述樣品上的多個位置處測量所述樣品的所述未知結晶程度。
19.如權利要求11所述的方法,還包括測量至少一個材料屬性并且將該屬性與所確定的未知結晶程度相互關聯。
20.如權利要求11所述的方法,還包括制作所述合金樣品并且基于對所述曲線和所述主曲線的比較來評估該制作步驟。
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