[發明專利]質量分析數據解析方法以及裝置

有效

• 申請號: 201180072499.1
• 申請日: 2011-08-03
• 公開（公告）號: CN103703360A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 山口真一
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種質量分析數據解析方法，用于基于針對結構已知物質的質量分析數據、針對使該結構已知物質分解一次以上而得到的碎片的質量分析數據、針對與上述結構已知物質結構局部地不同的未知物質的質量分析數據以及針對使上述未知物質分解一次以上而得到的碎片的質量分析數據，來解析上述未知物質的結構，該質量分析數據解析方法的特征在于，

基于根據針對上述結構已知物質和上述未知物質的質量分析數據求出的兩物質的質量差，來預測結構已知物質與未知物質的結構差異；

提取使根據針對源自上述結構已知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量和根據針對源自上述未知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量之差與由預測出的上述結構差異產生的質量差一致那樣的、源自結構已知物質的碎片的質量與源自未知物質的碎片的質量的多個組合；

將該多個組合中包含的源自未知物質的各碎片分別視為結構不同的子結構，使用根據在上述組合中與源自未知物質的碎片成為一組的源自結構已知物質的碎片的質量而推測出的子結構的信息，來找出最小的公共子結構；

根據所找出的該公共子結構、上述結構已知物質的已知的結構以及所預測出的結構差異來估計未知物質的結構。

2.根據權利要求1所述的質量分析數據解析方法，其特征在于，

上述碎片是產物離子，或者是產物離子和中性丟失碎片這兩者。

3.根據權利要求2所述的質量分析數據解析方法，其特征在于，

確認在針對源自結構已知物質的碎片的質量分析數據中是否存在與上述組合質量相同的組合，在存在的情況下，在對未知物質的結構進行估計之后將該組合作為可靠性低的組合來進行處理。

4.根據權利要求2所述的質量分析數據解析方法，其特征在于，

在無法提取出使根據針對源自上述結構已知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量和根據針對源自上述未知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量之差與由預測出的上述結構差異產生的質量差一致那樣的、源自結構已知物質的碎片的質量與源自未知物質的碎片的質量的組合的情況下，在對結構已知物質與未知物質的結構差異的預測進行變更之后，再次進行未知物質的結構估計。

5.根據權利要求2所述的質量分析數據解析方法，其特征在于，

在假定結構已知物質與未知物質的結構差異為一處的情況下，基于根據針對上述結構已知物質和上述未知物質的質量分析數據求出的兩物質的質量差來預測結構差異，

在無法提取出使根據針對源自上述結構已知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量和根據針對源自上述未知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量之差與由預測出的上述結構差異產生的質量差一致那樣的、源自結構已知物質的碎片的質量與源自未知物質的碎片的質量的組合的情況下，估計為結構已知物質與未知物質的結構差異為多處。

6.一種質量分析數據解析裝置，用于基于針對結構已知物質的質量分析數據、針對使該結構已知物質分解一次以上而得到的碎片的質量分析數據、針對與上述結構已知物質結構局部地不同的未知物質的質量分析數據以及針對使上述未知物質分解一次以上而得到的碎片的質量分析數據，來解析上述未知物質的結構，該質量分析數據解析裝置的特征在于，具備：

a)子結構信息存儲單元，其將根據針對源自上述結構已知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量和根據已知的結構已知物質的結構求出的子結構相關聯地進行存儲；

b)結構差異預測信息設定單元，其用于設定基于根據針對上述結構已知物質和上述未知物質的質量分析數據求出的兩物質的質量差而預測出的、與結構已知物質和未知物質的結構差異有關的信息；

c)碎片組合提取單元，其提取使根據針對源自上述結構已知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量和根據針對源自上述未知物質的碎片的質量分析數據求出的各碎片的質量之差與由上述結構差異預測信息設定單元設定的預測結構差異產生的質量差一致那樣的、源自結構已知物質的碎片的質量與源自未知物質的碎片的質量的多個組合；以及

d)結構估計單元，其將該多個組合中包含的源自未知物質的各碎片分別視為結構不同的子結構，通過上述子結構信息存儲單元獲取與在上述組合中同源自未知物質的碎片成為一組的源自結構已知物質的碎片的質量相關聯的子結構的信息并進行比較，由此找出最小的公共子結構，根據所找出的該公共子結構、上述結構已知物質的已知的結構以及所預測出的結構差異來估計未知物質的結構。