[發明專利]用于樣品分析的系統和方法

有效

• 申請號: 201180069042.5
• 申請日: 2011-12-29
• 公開（公告）號: CN103415909A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 羅伯特·格雷厄姆·庫克斯;李光濤;厲欣;歐陽證
• 申請（專利權）人: 普度研究基金會
• 主分類號: H01J49/26
• 分類號: H01J49/26
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 韓蕾;張德斌

1.一種用于分析樣品的系統，所述系統包含：

包含連接到高壓電源的材料的探針；

用于產生加熱氣體的裝置；和

質量分析器。

2.根據權利要求1所述的系統，其中所述加熱氣體是指向所述探針。

3.根據權利要求1所述的系統，其中所述加熱氣體是指向所述探針的尖端。

4.根據權利要求1所述的系統，其進一步包含經配置成涵蓋所述探針和所述用于產生所述加熱氣體的裝置的腔室。

5.根據權利要求1所述的系統，其中所述氣體是氮氣。

6.根據權利要求1所述的系統，其中所述材料是多孔材料。

7.根據權利要求6所述的系統，其中所述多孔材料是紙或PVDF膜。

8.根據權利要求7所述的系統，其中所述紙是濾紙。

9.根據權利要求8所述的系統，其中所述濾紙是成形為三角形片。

10.根據權利要求1所述的系統，其中所述材料是無孔材料。

11.根據權利要求10所述的系統，其中所述無孔材料是金屬。

12.根據權利要求11所述的系統，其中所述金屬是鋁。

13.根據權利要求12所述的系統，其中所述鋁是成形為三角形片。

14.根據權利要求1所述的系統，其中所述質量分析器是屬于質譜儀或手持式質譜儀。

15.根據權利要求14所述的系統，其中所述質量分析器是由以下組成的群組中選出：四極離子阱、直線形離子阱、圓柱形離子阱、離子回旋共振阱和軌道阱。

16.根據權利要求1所述的系統，其中所述系統在大氣環境條件下操作。

17.一種用于分析樣品的方法，所述方法包含：

使樣品與材料接觸；

向所述材料施加高電壓和熱量以產生從所述材料射出的、所述樣品中分析物的離子；和

分析所述射出的離子。

18.根據權利要求17所述的方法，其中所述樣品是固體。

19.根據權利要求18所述的方法，其中所述固體是重烷烴。

20.根據權利要求19所述的方法，其中所述重烷烴是石油衍生化合物。

21.根據權利要求20所述的方法，其中所述石油衍生化合物是蠟。

22.根據權利要求17所述的方法，其中所述熱量是由加熱氣體產生。

23.根據權利要求22所述的方法，其中所述加熱氣體是指向所述材料。

24.根據權利要求23所述的方法，其中所述加熱氣體是指向所述材料的尖端。

25.根據權利要求22所述的方法，其中所述氣體是氮氣。

26.根據權利要求22所述的方法，其中所述加熱氣體輔助電離所述樣品并且參與與所述樣品的化學反應。

27.根據權利要求26所述的方法，其中所述電離和所述化學反應同時發生。

28.根據權利要求17所述的方法，其中所述材料是多孔材料。

29.根據權利要求28所述的方法，其中所述多孔材料是紙或PVDF膜。

30.根據權利要求29所述的方法，其中所述紙是濾紙。

31.根據權利要求30所述的方法，其中所述濾紙是成形為三角形片。

32.根據權利要求17所述的方法，其中所述材料是無孔材料。

33.根據權利要求31所述的方法，其中所述無孔材料是金屬。

34.根據權利要求33所述的方法，其中所述金屬是鋁。

35.根據權利要求34所述的方法，其中所述鋁是成形為三角形片。

36.根據權利要求17所述的方法，其中所述施加步驟是在封閉腔室內進行。