[發明專利]角膜形狀測定裝置

有效

• 申請號: 201180067557.1
• 申請日: 2011-12-20
• 公開（公告）號: CN103370002A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 清水一成
• 申請（專利權）人: 尼德克株式會社
• 主分類號: A61B3/10
• 分類號: A61B3/10
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周善來;李雪春

1.一種角膜形狀測定裝置，測定受檢者眼的角膜形狀，所述角膜形狀測定裝置的特征在于，包括：

第一投影光學系統，向角膜投影第一視標；

第一攝像光學系統，拍攝在角膜上投影的第一視標的反射圖像；

第二投影光學系統，為測定角膜形狀，向角膜投影與所述第一視標不同的第二視標；

第二攝像光學系統，拍攝在角膜上投影的第二視標的反射圖像；以及

計算控制器角膜形狀測定單元，根據由所述第一攝像光學系統取得的第一視標的反射圖像，調整第二投影光學系統的投影光量，并根據由第二攝像光學系統拍攝的第二視標的反射圖像，測定受檢者眼的角膜形狀。

2.根據權利要求1所述的角膜形狀測定裝置，其特征在于，

所述第一投影光學系統具有紅外光源，通過紅外光將第一視標投影到角膜上，

所述第二投影光學系統具有可見光源，通過可見光將第二視標投影到角膜上。

3.根據權利要求1或2所述的角膜形狀測定裝置，其特征在于，所述第二投影光學系統將具有比所述第一視標在角膜上的投影范圍寬的視標，作為第二視標投影到角膜上。

4.根據權利要求1～3中任意一項所述的角膜形狀測定裝置，其特征在于，

計算控制器，角膜形狀測定單元具備：

第一的第一角膜形狀測定單元，根據由第一攝像光學系統拍攝的第一視標的反射圖像，測定受檢者眼的第一角膜形狀；以及

第二角膜形狀測定單元，根據由所述第一角膜形狀測定單元取得的角膜形狀調整第二投影光學系統的投影光量，并根據由第二攝像光學系統拍攝的第二視標的反射圖像，測定受檢者眼的第二角膜形狀。

5.根據權利要求1～4中任意一項所述的角膜形狀測定裝置，其特征在于，所述第一攝像光學系統兼用為所述第二攝像光學系統。