[發明專利]放射線圖像檢測裝置及其制造方法

有效

• 申請號: 201180063136.1
• 申請日: 2011-05-30
• 公開（公告）號: CN103299211A
• 公開（公告）日: 2013-09-11
• 發明（設計）人: 金子泰久;中津川晴康;佐藤圭一郎;北田信;三浦圭
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: G01T1/20
• 分類號: G01T1/20;A61B6/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 夏東棟;陸錦華

1.一種放射線圖像檢測裝置，包括：

閃爍器面板，所述閃爍器面板包括熒光體，所述熒光體形成在支持體上并且通過放射線的照射發出熒光；以及

光檢測器，所述光檢測器將由所述熒光體發出的熒光作為電信號來檢測，

其中，所述熒光體包括柱狀部和非柱狀部，所述柱狀部通過使熒光物質的晶體以柱狀生長而形成，所述非柱狀部設置在所述柱狀部與所述支持體之間并且具有比所述柱狀部的孔隙率低的孔隙率，并且

其中，所述閃爍器面板沿放射線行進方向被布置在所述光檢測器的后側，并且非柱狀部被布置在所述熒光體中與所述光檢測器側相對的一側處。

2.根據權利要求1所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述非柱狀部包括所述熒光物質的晶體為基本球形或不定形的非柱狀晶體的群，并且

包括在所述非柱狀部中的所述非柱狀晶體中的至少一些在與所述非柱狀部的厚度方向以直角相交的面內方向上相互融合。

3.根據權利要求1或2所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述非柱狀部的孔隙率是10%或以下。

4.根據權利要求1至3中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，在所述非柱狀部中的與所述支持體鄰接的部分的孔隙率是0或基本0。

5.根據權利要求1至4中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，包括在所述非柱狀部中的非柱狀晶體的直徑小于包括在所述柱狀部中的柱狀晶體的直徑。

6.根據權利要求5所述的放射線圖像檢測裝置，其中，包括在所述非柱狀部中的所述非柱狀晶體的直徑不小于0.5μm且不大于7.0μm。

7.根據權利要求1至6中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述非柱狀部的從所述支持體的表面起的厚度不薄于5μm或以上且不厚于125μm。

8.根據權利要求1至7中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述非柱狀部的孔隙率在所述非柱狀部的從所述支持體的表面起的厚度方向上具有梯度。

9.根據權利要求1至8中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，在所述柱狀部和所述非柱狀部中，至少所述柱狀部被形成為包括CsI和T1。

10.根據權利要求1至9中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述熒光體在與設置所述非柱狀部的一側相對的一側處還包括另一個非柱狀部。

11.根據權利要求1至10中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，驅動并控制所述光檢測器的控制單元被設置在所述閃爍器的與放射線入射側相對的一側處。

12.根據權利要求1至11中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述放射線圖像檢測裝置被構成為便攜式盒。

13.根據權利要求1至12中的任一項所述的放射線圖像檢測裝置，其中，所述熒光體通過氣相沉積方法形成在所述支持體上。

14.一種制造如在權利要求1至3中的任一項中所述的放射線圖像檢測裝置的方法，所述方法包括：

通過氣相沉積方法沉積所述熒光物質的晶體以將所述熒光體的所述柱狀部和所述非柱狀部形成在所述支持體上；以及

改變在形成所述柱狀部時的真空度、所述支持體的溫度和沉積速率的條件當中的至少一個條件來形成所述非柱狀部。

15.根據權利要求14所述的制造放射線圖像檢測裝置的方法，其中，所形成的熒光體的在所述柱狀部的沉積方向上的前端側部和所述光檢測器被放置成彼此相對并且彼此緊密接觸。

16.根據權利要求14所述的制造放射線圖像檢測裝置的方法，其中，所形成的熒光體的在所述柱狀部的沉積方向上的前端側部和所述光檢測器被放置成通過樹脂層彼此相對地光耦合到彼此。