[發(fā)明專利]監(jiān)控標(biāo)記頭部標(biāo)記元件的監(jiān)控設(shè)備及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201180062335.0 | 申請日: | 2011-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN103269863A | 公開(公告)日: | 2013-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彼特·約爾格·屈克達(dá)爾;丹尼爾·約瑟夫·瑞安 | 申請(專利權(quán))人: | 奧迪克激光應(yīng)用技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | B41J2/45 | 分類號: | B41J2/45;B41J2/46 |
| 代理公司: | 上海翰鴻律師事務(wù)所 31246 | 代理人: | 李佳銘 |
| 地址: | 德國塞爾*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 監(jiān)控 標(biāo)記 頭部 元件 設(shè)備 方法 | ||
1.一種用于監(jiān)控標(biāo)記頭部(10)的標(biāo)記元件(11)的監(jiān)控設(shè)備,
其中,標(biāo)記頭部(10)包括接收空間(17)陣列(14),
其中,每個標(biāo)記元件(11)包括光源(18),光源(18)發(fā)出用于標(biāo)記的標(biāo)記光,還包括光導(dǎo)(19),光導(dǎo)(19)與光源(18)及其中一個接收空間(17)相連接,用于將標(biāo)記光從光源(18)引導(dǎo)至接收空間(17),
其特征在于:
-一用于記錄標(biāo)記元件(11)上的檢測信息的檢測器(30)被提供,
-一控制及評估單元(40)被提供,其適用于基于檢測信息確定標(biāo)記元件(11)是否執(zhí)行標(biāo)記操作,
-檢測器(30)為一個光檢測器,并且
-控制及評估單元(40)適用于在檢測信息及關(guān)于當(dāng)檢測信息被記錄時哪個標(biāo)記元件(11)被激活的激活信息的基礎(chǔ)上確定哪個光源(18)與哪個接收空間(17)連接。
2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其特征在于:
-控制及評估單元(40)適用于在檢測信息及關(guān)于當(dāng)檢測信息被記錄時哪個標(biāo)記元件(11)被激活的激活信息的基礎(chǔ)上確定標(biāo)記元件(11)是否有缺陷。
3.如權(quán)利要求1或2所述的設(shè)備,其特征在于:
檢測器(30)設(shè)有一照相機(jī)(30),用于為標(biāo)記元件(11)上檢測信息中的空間解析記錄。
4.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于:
控制及評估單元(40)適用于激活標(biāo)記元件(11)來執(zhí)行標(biāo)記操作,尤其是在一預(yù)定順序中,更好地每次激活一個標(biāo)記元件(11)或是同時激活所有標(biāo)記元件(11)。
5.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于:
一用于將檢測器(30)持有在相對于標(biāo)記頭部(10)的定義位置中的殼體(50)被提供。
6.如權(quán)利要求5所述的設(shè)備,其特征在于:
殼體(50)被形成以防止雜散光到達(dá)檢測器(30)。
7.如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于:
至少一個部分透明板(60),尤其是擴(kuò)散器或毛玻璃,被提供在殼體(50)上。
8.如權(quán)利要求7所述的設(shè)備,其特征在于:
至少一個部分透明板(60)是磷光板或熒光板。
9.如權(quán)利要求5至8任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于:
一用于可拆卸式地將殼體(50)固定在標(biāo)記頭部(10)相對限定位置的固定裝置(70)被提供。
10.一種標(biāo)記裝置,其特征在于:
包括標(biāo)記頭部(10)及如權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的監(jiān)控設(shè)備。
11.如權(quán)利要求10所述的裝置,其特征在于:
標(biāo)記頭部(10)包括至少一個用于標(biāo)記的備用元件(13),
如果所有的標(biāo)記元件(11)是可用的,則至少一個備用元件(13)無效,
并且至少一個備用元件(13)是可替換的,用于代替有缺陷的標(biāo)記元件(12)。
12.一種用于監(jiān)控帶有如權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的設(shè)備的標(biāo)記頭部(10)中的標(biāo)記元件(11)的方法,其特征在于:
-標(biāo)記元件(11)被激活來執(zhí)行標(biāo)記操作,
-標(biāo)記元件(11)上的檢測信息被記錄,并且
-基于檢測信息確定一個標(biāo)記元件(11)是否執(zhí)行標(biāo)記操作。
13.如權(quán)利要求12所述方法,其特征在于:
為了檢測標(biāo)記元件(11)是否是有缺陷的,
-所有標(biāo)記元件(11)同時被激活,
-所有標(biāo)記元件(11)上的檢測信息同時被記錄,并且
-如果一個標(biāo)記元件(11)不執(zhí)行標(biāo)記操作,該標(biāo)記元件(11)被定義為有缺陷的標(biāo)記元件(12)。
14.如權(quán)利要求12或13所述的方法,其特征在于:
為了確定標(biāo)記元件(11)的順序,
-標(biāo)記元件(11)依次被激活,
-各個已激活的標(biāo)記元件(11)的位置被確定,并且
-一包含標(biāo)記元件(11)位置信息的映射表被建立。
15.一種用于替換標(biāo)記頭部(10)的有缺陷的標(biāo)記元件(12)的方法,其特征在于,包含以下步驟:
-執(zhí)行如權(quán)利要求12至14任一項(xiàng)所述的用于監(jiān)控標(biāo)記頭部(10)的標(biāo)記元件(11)的方法,
-基于檢測信息識別有缺陷的標(biāo)記元件(12),并且
-使用一備用元件(13)替換有缺陷的標(biāo)記元件(12)。
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