[發(fā)明專利]具有被減薄的襯底的垂直半導(dǎo)體器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180059579.3 | 申請(qǐng)日: | 2011-10-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103339732A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | S.B.莫林;M.A.斯圖伯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | IO半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L21/336;H01L23/48 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 被減薄 襯底 垂直 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種集成電路芯片,包括:
垂直半導(dǎo)體器件,包括:
有源半導(dǎo)體區(qū)域,在該有源半導(dǎo)體區(qū)域內(nèi)制作有多個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)以形成有源器件,并且在該有源半導(dǎo)體區(qū)域之下至少一部分襯底材料被去除,以隔離該有源器件、暴露至少一個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)而用于底側(cè)電連接、及提高散熱性能;以及
至少一個(gè)底側(cè)電極,連接到暴露的該至少一個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。
2.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,還包括:
多個(gè)該垂直半導(dǎo)體器件,每一個(gè)具有該有源半導(dǎo)體區(qū)域,并且每一個(gè)具有與至少另外一個(gè)垂直半導(dǎo)體器件的至少一個(gè)底側(cè)電極獨(dú)立連接的至少一個(gè)底側(cè)電極。
3.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,還包括:
溝槽區(qū)域,沿著該有源半導(dǎo)體區(qū)域的垂直側(cè)延伸且水平圍繞該有源半導(dǎo)體區(qū)域以電隔離該集成電路芯片上的該垂直半導(dǎo)體器件。
4.如權(quán)利要求3所述的集成電路芯片,其中:
該垂直半導(dǎo)體器件包含在該集成電路芯片的第一區(qū)域內(nèi);
該集成電路芯片的該第一區(qū)域具有第一厚度;
該集成電路芯片的第二區(qū)域具有小于該第一厚度的第二厚度并且包含至少一個(gè)非垂直半導(dǎo)體器件;并且
該溝槽區(qū)域使該第一區(qū)域和該第二區(qū)域彼此電隔離。
5.如權(quán)利要求3所述的集成電路芯片,其中:
該溝槽區(qū)域穿通半導(dǎo)體通孔(TSV)的制造方法形成。
6.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,其中:
至少一個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的垂直或水平尺寸已經(jīng)最小化,以最小化該垂直半導(dǎo)體器件的寄生電容。
7.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,其中:
該多個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)還包括源極、漏極和溝道;
該至少一部分襯底材料被去除以暴露用于底側(cè)電連接的該源極和該溝道;并且
該至少一個(gè)底側(cè)電極連接到該源極和該溝道。
8.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,還包括:
處理晶片層,接合在該有源半導(dǎo)體區(qū)域之上,以使得能夠減薄襯底材料。
9.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,其中:
該有源半導(dǎo)體區(qū)域形成在SOI晶片中。
10.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,其中:
該有源半導(dǎo)體區(qū)域形成在體半導(dǎo)體晶片中。
11.如權(quán)利要求1所述的集成電路芯片,其中:
該半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)還包括該垂直功率器件的第一半導(dǎo)體區(qū)域、第二半導(dǎo)體區(qū)域和第三半導(dǎo)體區(qū)域;
該第三半導(dǎo)體區(qū)域隔離該第一半導(dǎo)體區(qū)域與該第二半導(dǎo)體區(qū)域;
該第三半導(dǎo)體區(qū)域具有底邊界和從該有源半導(dǎo)體區(qū)域的頂表面向下延伸到該底邊界的側(cè)邊界;并且
該第一半導(dǎo)體區(qū)域和第三半導(dǎo)體區(qū)域沿著該側(cè)邊界接觸而沿著該底邊界不接觸。
12.如權(quán)利要求11所述的集成電路芯片,還包括:
第一底側(cè)電極,連接到該第一半導(dǎo)體區(qū)域;以及
第二底側(cè)電極,連接到該第三半導(dǎo)體區(qū)域。
13.如權(quán)利要求11所述的集成電路芯片,其中:
該第二半導(dǎo)體區(qū)域具有第二底邊界以及從該有源半導(dǎo)體區(qū)域的頂表面向下延伸到該第二底邊界的第二側(cè)邊界;并且
該第二半導(dǎo)體區(qū)域和第三半導(dǎo)體區(qū)域沿著該第二側(cè)邊界接觸而沿著該第二底邊界不接觸。
14.如權(quán)利要求13所述的集成電路芯片,還包括:
第一底側(cè)電極,連接到該第一半導(dǎo)體區(qū)域;
第二底側(cè)電極,連接到該第二半導(dǎo)體區(qū)域;以及
第三底側(cè)電極,連接到該第三半導(dǎo)體區(qū)域;
并且其中該第一底側(cè)電極、第二底側(cè)電極和第三底側(cè)電極彼此獨(dú)立地連接。
15.如權(quán)利要求11所述的集成電路芯片,其中:
部分襯底材料被去除,以暴露該第一半導(dǎo)體區(qū)域和第三半導(dǎo)體區(qū)域而用于底側(cè)電連接;并且
該底側(cè)電極連接到該第一半導(dǎo)體區(qū)域和該第三半導(dǎo)體區(qū)域二者。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





