[發明專利]用于檢測可線性移動的引導元件的突出位置的位置測量系統及相關測量方法

有效

• 申請號: 201180053800.4
• 申請日: 2011-10-24
• 公開（公告）號: CN103282744A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 馬庫斯·雷曼
• 申請（專利權）人: 阿海琺NP有限公司
• 主分類號: G01D5/20
• 分類號: G01D5/20;G01F23/74
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 許偉群;郭放

1.一種用于檢測引導棒（3）的極值位置（x_min，x_max）的位置測量系統（1），所述引導棒相對于引導系統（2）沿著直線路徑（x）伸展并且能夠沿著該直線路徑（x）移動，所述位置測量系統帶有多個傳感器元件（5）和至少一個磁性元件（7），其中：

－磁性元件（7）設計用于形成磁場（H），

－磁性元件（7）與引導棒（3）連接，

－所述傳感器元件（5）或者每個傳感器元件（5）分別構建在探測區域內，用于探測其在傳感器元件（5）的位置上的場強大于預先定義的閾值的磁場（H），并且

－至少一個傳感器元件（5）與引導系統（2）連接并且布置在路徑（x）的環境（U_x）中。

2.根據權利要求1所述的位置測量系統（1），其中磁性元件（7）構建為永磁體。

3.根據權利要求1或2所述的位置測量系統（1），其中磁性元件（7）與引導棒（3）在端側連接。

4.根據權利要求1至3之一所述的位置測量系統（1），其中至少一個傳感器元件（5）的探測區域在端側檢測設置在極值位置（x_min，x_max）中的引導棒（3）。

5.根據權利要求1至4之一所述的位置測量系統（1），其中引導棒（3）能夠在最小伸出位置（x_min）和最大伸出位置（x_max）之間移動。

6.根據權利要求1至5之一所述的位置測量系統（1），其中至少一個傳感器元件（5）構建為無接觸傳感器（5），尤其是構建為簧片接觸元件（5）。

7.根據權利要求1至6之一所述的位置測量系統（1），其中至少一個傳感器元件（5）與電路裝置（12）連接，該電路裝置（12）

－與控制單元（11）連接，以及

－包括多個電感線圈（9）。

8.根據權利要求6和7所述的位置測量系統（1），其中該電路裝置（12）包括至少一個歐姆電阻單元（R₁，R₂），

－其與至少一個電感線圈（9）構建串聯電路（12），并且

－其與至少一個接觸傳感器（5）構建電路回路（14，15）。

9.根據權利要求6至8所述的位置測量系統（1），其中該電路裝置（12）：

－包括兩個歐姆電阻單元（R₁，R₂），其與電感線圈（9）構建串聯電路（12），其中所述兩個歐姆電阻單元（R₁，R₂）的每個分別與電感線圈（9）的一個端側連接，并且

－包括多個接觸傳感器（5），其中每個接觸傳感器（5）都與歐姆電阻（R₁，R₂）之一構建電路回路（14，15）。

10.根據權利要求9所述的位置測量系統（1），其中控制單元（11）包括：

－電源（17），用于將直流電流（I_DC）饋送到電路裝置（12）中，和/或

－第一測量單元（18），用于檢測在電路裝置（12）中的總電壓（U）的直流電壓部分（U_DC），和

－第二測量單元（19），用于檢測在電路裝置（12）中的總電壓（U）的交流電壓部分（U_AC）。

11.根據權利要求7至10之一所述的位置測量系統（1），其中

－控制單元（11）與第二電路裝置（13）連接，該電路裝置（13）包括電線圈（8），并且

－控制單元（11）構建用于形成和控制在電路裝置（13）中的電流（I_AC）。

12.根據權利要求11所述的位置測量系統（1），其中所述電線圈（8）與所述直線路徑（x）平行取向和設置。

13.根據權利要求10至12所述的位置測量系統（1），其中

－所述引導棒（3）作為原子能設備的控制棒（3）給出，并且

－所述引導系統（2）包括包圍控制棒（3）的耐壓的引導管（4）。