[發(fā)明專利]用于瓦式磁記錄的軌道間干擾消除有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201180052022.7 | 申請日: | 2011-10-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103168327B | 公開(公告)日: | 2016-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | J.貝羅拉多;M.梅羅 | 申請(專利權(quán))人: | SK海尼克斯存儲(chǔ)技術(shù)公司 |
| 主分類號(hào): | G11B5/187 | 分類號(hào): | G11B5/187 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 李少丹;許偉群 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 瓦式磁 記錄 軌道 干擾 消除 | ||
1.一種方法,包括:
接收與磁性存儲(chǔ)上的軌道相關(guān)聯(lián)的采樣輸入序列;
使用處理器來生成與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的軌道間干擾(ITI)數(shù)據(jù),包括通過執(zhí)行采樣輸入序列和與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)序列之間的相關(guān)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括從采樣輸入序列中移除與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,生成ITI數(shù)據(jù)包括生成相關(guān)系數(shù)的集合并選擇相關(guān)系數(shù)集合的子集。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中,所選擇的相關(guān)系數(shù)的子集被用于確定軌道和第一旁軌之間的相對相位偏移。
5.如權(quán)利要求3所述的方法,其中,所選擇的相關(guān)系數(shù)的子集被用于確定與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的旁軌脈沖波形。
6.如權(quán)利要求3所述的方法,其中,選擇相關(guān)系數(shù)集合的子集至少部分地基于與相關(guān)系數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的峰值。
7.如權(quán)利要求3所述的方法,其中,選擇相關(guān)系數(shù)集合的子集至少部分地基于與相關(guān)系數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的最大功率值。
8.如權(quán)利要求3所述的方法,其中,選擇相關(guān)系數(shù)集合的子集至少部分地基于與相關(guān)系數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的最大絕對和值。
9.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括確定與相關(guān)系數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的函數(shù)是否超過了設(shè)定閾值,并且在函數(shù)超過設(shè)定閾值的情況下,從采樣輸入序列移除ITI數(shù)據(jù),而在函數(shù)未超過設(shè)定閾值的情況下,不從采樣輸入序列移除ITI數(shù)據(jù)。
10.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,生成與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)包括針對與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的兩個(gè)或更多片段中的每一個(gè)獨(dú)立地生成ITI數(shù)據(jù)。
11.如權(quán)利要求10所述的方法,其中,基于與多個(gè)伺服楔相對應(yīng)的位置,確定與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的兩個(gè)或更多片段中的每一個(gè)。
12.如權(quán)利要求10所述的方法,進(jìn)一步包括從采樣輸入序列移除針對兩個(gè)或更多片段中的每一個(gè)所生成的ITI數(shù)據(jù)。
13.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括生成與第二旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù),包括通過執(zhí)行采樣輸入序列和與第二旁軌相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)序列之間的相關(guān)。
14.如權(quán)利要求13所述的方法,進(jìn)一步包括從采樣輸入序列移除與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)以及與第二旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)。
15.如權(quán)利要求14所述的方法,進(jìn)一步包括:
在與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)以及與第二旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)被移除的情況下,確定與采樣輸入序列相關(guān)聯(lián)的誤差校正處理已經(jīng)失敗;以及
至少部分地基于與第一旁軌所關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的功率值以及與第二旁軌所關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的功率值,生成與讀取頭相關(guān)聯(lián)的新位置。
16.一種系統(tǒng),包括:
處理器,被配置為:
?????接收與磁性存儲(chǔ)上的軌道相關(guān)聯(lián)的采樣輸入序列;以及
?????生成與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的軌道間干擾(ITI)數(shù)據(jù),包括通過執(zhí)行采樣輸入序列和與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)序列之間的相關(guān);以及
與處理器耦合的存儲(chǔ)器,被配置為向處理器提供指令。
17.如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng),其中,處理器進(jìn)一步被配置為從采樣輸入序列移除與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的ITI數(shù)據(jù)。
18.如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng),其中,生成ITI數(shù)據(jù)包括生成相關(guān)系數(shù)的集合以及選擇相關(guān)系數(shù)集合的子集。
19.如權(quán)利要求18所述的系統(tǒng),其中,所選擇的相關(guān)系數(shù)的子集被用于確定軌道和第一旁軌之間的相對相位偏移。
20.如權(quán)利要求18所述的系統(tǒng),其中,所選擇的相關(guān)系數(shù)的子集被用于確定與第一旁軌相關(guān)聯(lián)的旁軌脈沖波形。
21.如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng),其中,處理器被進(jìn)一步配置為確定與相關(guān)系數(shù)集合相關(guān)聯(lián)的函數(shù)是否超過設(shè)定閾值,并且在函數(shù)超過設(shè)定閾值的情況下,從采樣輸入序列移除ITI數(shù)據(jù),而在函數(shù)未超過設(shè)定閾值的情況下,不從采樣輸入序列移除ITI數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于SK海尼克斯存儲(chǔ)技術(shù)公司,未經(jīng)SK海尼克斯存儲(chǔ)技術(shù)公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201180052022.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B5-00 借助于記錄載體的激磁或退磁進(jìn)行記錄的;用磁性方法進(jìn)行重現(xiàn)的;為此所用的記錄載體
G11B5-004 .磁鼓信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-008 .磁帶或磁線信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-012 .磁盤信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-02 .記錄、重現(xiàn)或抹除的方法及其讀、寫或抹除的電路
G11B5-10 .磁頭的外殼或屏蔽罩的結(jié)構(gòu)或制造





