[發(fā)明專利]對(duì)真空環(huán)境中的分子污染物的分析有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180051552.X | 申請(qǐng)日: | 2011-10-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103167901A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | R.J.T.索爾斯;H.H.克諾貝;P.K.德博克斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | B01D53/02 | 分類號(hào): | B01D53/02;G01N1/40 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李舒;汪揚(yáng) |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國(guó)省代碼: | 荷蘭;NL |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 真空 環(huán)境 中的 分子 污染物 分析 | ||
1.針對(duì)用于檢測(cè)真空環(huán)境(11)中的分子污染物的氣體分析系統(tǒng)(10)的預(yù)濃縮裝置,所述預(yù)濃縮裝置(13)包括:
中空元件(15),所述中空元件(15)具有:氣體入口開(kāi)口(20),其用于在收集階段從所述真空環(huán)境(11)接收氣體;氣體出口(31),其用于在傳送階段中傳送氣體;以及內(nèi)壁(33),其用于在所述收集階段中吸附氣體和在所述傳送階段中解吸氣體,以及
填充元件(14),其可從所述收集階段中在所述中空元件外面的第一位置移動(dòng)到所述傳送階段中在所述中空元件里面的第二位置,所述第二位置讓沿著所述內(nèi)壁到所述氣體出口的傳送通道(41)開(kāi)著。
2.如權(quán)利要求1中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述中空元件具有被所述內(nèi)壁限制的內(nèi)部空間,以及所述內(nèi)部空間具有錐形形狀,并且所述填充元件(34)具有與所述內(nèi)部空間的所述錐形形狀相對(duì)應(yīng)的形狀,使得在所述第二位置中所述傳送通道(41)在所述填充元件與所述內(nèi)壁之間被形成。
3.如權(quán)利要求1中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述裝置包括用于在所述傳送階段中閉合所述氣體入口開(kāi)口的閉合元件(141)。
4.如權(quán)利要求3中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述閉合元件(141)被布置用于在所述傳送階段中將所述氣體入口開(kāi)口減小到減小的進(jìn)口(52),以用于接納來(lái)自所述真空環(huán)境的氣體以便將解吸的氣體輸送到所述氣體出口。
5.如權(quán)利要求3或4中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述閉合元件(141)是所述填充元件上的法蘭。
6.如權(quán)利要求1中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述內(nèi)壁(33)或所述填充元件(34)包括吸附劑微粒的涂層。
7.如權(quán)利要求1中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述裝置被布置用于耦合到用于在所述收集階段中對(duì)所述內(nèi)壁或所述填充元件進(jìn)行冷卻的冷卻裝置(16)和/或用于耦合到用于在所述傳送階段中對(duì)所述內(nèi)壁或所述填充元件進(jìn)行加熱的加熱裝置。
8.如權(quán)利要求1中所要求保護(hù)的裝置,其中,所述裝置包括流進(jìn)口,其用于接納清洗介質(zhì)以便使能對(duì)解吸的氣體的輸送或?qū)λ鲱A(yù)濃縮裝置(13)的沖洗。
9.包括如權(quán)利要求1中所要求保護(hù)的預(yù)濃縮裝置的氣體分析系統(tǒng),其中,所述系統(tǒng)包括以下中的至少一個(gè)
-?泵系統(tǒng)(43),其用于將從所述內(nèi)壁解吸的氣體分子經(jīng)由所述傳送通道輸送到直通真空相容檢測(cè)器或第二預(yù)濃縮裝置的氣體出口,
-?冷卻裝置(16),其用于在所述收集階段中冷卻所述內(nèi)壁或所述填充元件,和/或
-?加熱裝置(16),其用于在所述傳送階段中加熱所述內(nèi)壁或所述填充元件,
和/或
-?真空相容檢測(cè)器(42),其用于對(duì)所釋放的分子進(jìn)行分析以便確定所述分子污染物。
10.如權(quán)利要求9中所要求保護(hù)的氣體分析系統(tǒng),其中,所述系統(tǒng)(10)包括:
-?氣體插入裝置(17),其用于將相當(dāng)量的已知?dú)怏w插入到真空環(huán)境(11)中以便促進(jìn)氣體分子朝所述氣體出口的輸送。
11.用于檢測(cè)真空環(huán)境(11)中的分子污染物的氣體分析系統(tǒng)(10)中的預(yù)濃縮的方法,所述系統(tǒng)包括如權(quán)利要求1所要求保護(hù)的預(yù)濃縮裝置(13),所述方法包括:
-?在收集階段中將所述填充元件(14)定位于在所述中空元件外面的第一位置中,
-?經(jīng)由氣體入口開(kāi)口從所述真空環(huán)境(11)接收氣體并且在所述收集階段中將所述氣體吸附在所述內(nèi)壁上,
-?在傳送階段中將所述填充元件移動(dòng)到在所述中空元件里面的第二位置,所述第二位置讓沿著所述內(nèi)壁到所述氣體出口的傳送通道開(kāi)著,以及?
-?在所述傳送階段中從所述內(nèi)壁解吸氣體并且在所述傳送階段中將所述氣體傳送到所述氣體出口。
12.如權(quán)利要求11中所要求保護(hù)的方法,其中,所述方法包括:
-?在所述收集階段中冷卻所述預(yù)濃縮裝置(13)的內(nèi)壁或所述填充元件的步驟(61),
和/或
-?在所述傳送階段中加熱所述預(yù)濃縮裝置(13)的內(nèi)壁或所述填充元件以便從所述內(nèi)壁釋放所述氣體的步驟(65)。
13.分析氣體以用于檢測(cè)真空環(huán)境中的分子污染物的方法,所述方法包括如權(quán)利要求11或12中所要求保護(hù)的方法,以及:
-?用于對(duì)所釋放的氣體進(jìn)行分析以便確定分子污染物的氣相色譜法的步驟(66),
和/或
-?用于對(duì)所釋放的氣體進(jìn)行分析以便確定分子污染物的質(zhì)譜法的步驟,
和/或
用于對(duì)所釋放的氣體進(jìn)行分析以便確定分子污染物的元素選擇性檢測(cè)的步驟。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于皇家飛利浦電子股份有限公司,未經(jīng)皇家飛利浦電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201180051552.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 環(huán)境服務(wù)系統(tǒng)以及環(huán)境服務(wù)事業(yè)
- 環(huán)境控制裝置、環(huán)境控制方法、環(huán)境控制程序及環(huán)境控制系統(tǒng)
- 環(huán)境檢測(cè)終端和環(huán)境檢測(cè)系統(tǒng)
- 環(huán)境調(diào)整系統(tǒng)、環(huán)境調(diào)整方法及環(huán)境調(diào)整程序
- 環(huán)境估計(jì)裝置和環(huán)境估計(jì)方法
- 用于環(huán)境艙的環(huán)境控制系統(tǒng)及環(huán)境艙
- 車輛環(huán)境的環(huán)境數(shù)據(jù)處理
- 環(huán)境取樣動(dòng)力頭、環(huán)境取樣方法
- 環(huán)境艙環(huán)境控制系統(tǒng)
- 環(huán)境檢測(cè)儀(環(huán)境貓)





