[發明專利]描繪地下儲層中烴類產氣帶的特征的系統和方法

無效

• 申請號: 201180051214.6
• 申請日: 2011-07-15
• 公開（公告）號: CN103180548A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 劉呈冰
• 申請（專利權）人: 雪佛龍美國公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 李向英

1.一種描繪地下儲層中烴類氣體凈產帶的特征的計算機實施的方法，包括：

基于與所述儲層有關的測井數據確定低硫帶指標；

基于所述測井數據確定巖石性質；

根據所述低硫帶指標和所述巖石性質導出凈產帶的一個或多個類；以及

輸出所述一個或多個凈產帶以標識所述地下儲層內的受關注區域。

2.根據權利要求1的方法，其中，確定所述低硫帶指標包括：

計算歸一化的中子密度分離；以及

使用所述歸一化的中子密度分離和所述測井數據確定所述低硫帶指標。

3.根據權利要求1的方法，其中，確定所述巖石性質包括按照所述測井記錄計算總含水飽和度、吸附氣體飽和度、氣體總量、孔隙度以及水力壓裂的傾向。

4.根據權利要求3的方法，進一步包括計算所述總含水飽和度的不確定性等級和所述氣體總量的不確定性等級。

5.根據權利要求3的方法，進一步包括確定所述地下儲層中存在的碳酸鹽巖的孔隙度基線。

6.根據權利要求3的方法，進一步包括確定所述地下儲層中存在巖石的氣體總量基線。

7.根據權利要求3的方法，其中，計算所述水力壓裂的傾向使用了泊松比、地層體密度、等效孔隙流體密度以及真實垂直深度。

8.根據權利要求1的方法，其中，所述凈產帶的一個或多個類包括一個或多個第一類凈產帶。

9.根據權利要求8的方法，其中，所述第一類凈產帶具有：所述低硫帶指標大于0，所述氣體總量大于所述巖石的所述氣體總量基線與所述氣體總量的所述不確定性等級之和，所述孔隙度大于所述碳酸鹽巖的所述孔隙度基線，所述吸附氣體飽和度大于所述總含水飽和度的所述不確定性等級，以及所述水力壓裂的傾向大。

10.根據權利要求1的方法，其中，所述凈產帶的一個或多個類包括一個或多個第二類凈產帶。

11.根據權利要求10的方法，其中，所述第二類凈產帶具有：所述低硫帶指標大于0，所述氣體總量大于所述巖石的所述氣體總量基線與所述氣體總量的所述不確定性等級之和，以及所述孔隙度大于所述碳酸鹽巖的所述孔隙度基線。

12.根據權利要求1的方法，其中，所述凈產帶的一個或多個類包括一個或多個第三類凈產帶。

13.根據權利要求12的方法，其中，所述一個或多個第三類凈產帶具有：所述吸附氣體飽和度大于所述總含水飽和度的所述不確定性等級，以及到低硫帶指標的小物理距離大于0。

14.根據權利要求1的方法，其中，所述凈產帶的一個或多個類進一步由從所述巖石性質導出的一個或多個類型描繪。

15.一種描繪地下儲層中烴類凈產帶的特征的系統，包括：

用于提供表示所述地下儲層物理特征的數據的設備；

計算機處理器，與所述設備通信并且被配置為接收所述數據以及響應所述數據而執行計算機可執行代碼，所述計算機可執行代碼包括：

低硫帶指標模塊，用于根據所述數據識別潛在的富含有機物帶；

巖石性質模塊，用于根據所述數據計算巖石性質；以及

凈產帶識別模塊，用于根據所述低硫帶指標和所述巖石性質識別凈產帶的一個或多個類；以及

用戶接口。

16.根據權利要求14的系統，進一步包括用于計算所述總含水飽和度的不確定性等級和所述氣體總量的不確定性等級的模塊。

17.根據權利要求14的系統，進一步包括用于確定所述地下儲層中存在的碳酸鹽巖的孔隙度基線的模塊。

18.根據權利要求14的系統，進一步包括用于確定所述地下儲層中存在的巖石的氣體總量基線的模塊。

19.一種包括計算機可讀介質的制成品，在計算機可讀介質中包含有計算機可讀程序代碼，所述計算機可讀程序代碼適于被執行以實施描繪地下儲層中烴類氣體凈產帶的特征的方法，所述方法包括：

基于與所述儲層有關的測井數據確定低硫帶指標；

基于所述測井數據確定巖石性質；

根據所述低硫帶指標和所述巖石性質導出凈產帶的一個或多個類；以及

輸出所述一個或多個類凈產帶以標識所述地下儲層內的受關注區域。