[發明專利]根據算法和規格的自動最佳集成電路生成器

無效

• 申請號: 201180044079.2
• 申請日: 2011-07-11
• 公開（公告）號: CN103098058A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 薩蒂許·帕德馬納班;皮爾斯·吳;阿南德·潘德倫根;瑟雷許·凱迪耶拉;阿南斯·朵巴;泰克·席基哈拉
• 申請（專利權）人: 艾爾葛托奇普股份有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種用于自動設計定制集成電路的方法，包括：

a.接收所述定制集成電路的規格，其中所述規格包括計算機可讀代碼以及針對所述定制集成電路的一個或多個制約；

b.自動設計處理器架構并且生成針對所述計算機可讀代碼獨特定制的滿足所述制約的處理器芯片規格；以及

c.將所生成的處理器芯片規格綜合為半導體制造所用的所述定制集成電路的計算機可讀描述。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，還包括：進行所述計算機可讀代碼的靜態評測或動態評測。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，還包括：自動生成所述定制集成電路運行所述計算機可讀代碼所用的固件或軟件開發工具包即SDK。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，還包括：基于所述計算機可讀代碼來選擇架構。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，還包括：基于所述計算機可讀代碼的靜態評測和動態評測來優化架構。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，還包括：在可編程架構中將所述計算機可讀代碼編譯成匯編代碼。

7.根據權利要求7所述的方法，其中，還包括：鏈接所述匯編代碼以生成針對所選擇的可編程架構的固件。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，還包括：進行所述固件的循環精確仿真。

9.根據權利要求7所述的方法，其中，還包括：進行所述固件的動態評測。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，還包括：基于評測后的固件來優化所述可編程架構。

11.根據權利要求7所述的方法，其中，還包括：基于所述匯編代碼來優化所述可編程架構。

12.根據權利要求1所述的方法，其中，還包括：針對所選擇的架構來生成寄存器傳輸級代碼即RTL代碼。

13.根據權利要求12所述的方法，其中，還包括：進行所述RTL代碼的綜合。

14.一種用于自動設計定制集成電路的系統，包括：

a.用于接收所述定制集成電路的規格的部件，其中所述規格包括計算機可讀代碼以及針對所述定制集成電路的一個或多個制約；

b.用于自動設計處理器架構并且生成針對所述計算機可讀代碼獨特定制的滿足所述制約的處理器芯片規格的部件；以及

c.用于將所生成的架構綜合為半導體制造所用的所述定制集成電路的計算機可讀描述的部件。

15.根據權利要求14所述的系統，其中，還包括：用于進行所述計算機可讀代碼的靜態評測和動態評測的部件。

16.根據權利要求14所述的系統，其中，還包括：用于基于所述計算機可讀代碼來選擇架構的部件。

17.根據權利要求14所述的系統，其中，還包括：用于基于所述計算機可讀代碼的評測來優化架構的部件。

18.根據權利要求14所述的系統，其中，還包括編譯器，所述編譯器用于將所述計算機可讀代碼轉換成匯編代碼。

19.根據權利要求14所述的系統，其中，還包括循環精確仿真器，所述循環精確仿真器用于測試固件。

20.根據權利要求14所述的系統，其中，還包括針對所選擇的架構的寄存器傳輸級代碼生成器。