[發(fā)明專利]使用與半導(dǎo)體施主分離的層來制造光電裝置的方法和由該方法制成的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180043744.6 | 申請(qǐng)日: | 2011-03-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103262210B | 公開(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 阿杰庫瑪·R·賈殷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 維爾雷思科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/20 | 分類號(hào): | H01L21/20;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11002 | 代理人: | 劉成春,王瑩 |
| 地址: | 美國佛*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 半導(dǎo)體 施主 分離 制造 光電 裝置 方法 制成 | ||
1.一種制造光電裝置的方法,包括:
提供具有可分離層的半導(dǎo)體施主;
使所述可分離層從所述施主脫離;以及
將所述可分離層作為光電裝置的電氣功能元件并入所述光電裝置中,
其中,所述提供半導(dǎo)體施主包括:提供固有層狀材料,所述固有層狀材料具有通過范德華力結(jié)合在一起的片層;并且
所述脫離包括:使所述片層的至少一個(gè)從所述半導(dǎo)體施主脫離。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述提供固有層狀材料包括:提供包括鎵和硒的材料。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述固有層狀材料包括:具有大于或等于1.8eV并小于或等于2.5eV的塊體能隙的層狀材料。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述固有層狀材料包括:具有大于或等于2.5eV并小于或等于4.5eV的塊體能隙的層狀材料。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述可分離層具有厚度,并且所述方法還包括:將所述可分離層的厚度作為所述光電裝置的電氣功能元件的預(yù)期性能的函數(shù)進(jìn)行調(diào)整。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其中,所述厚度的調(diào)整是與所述脫離相結(jié)合進(jìn)行的。
7.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述光電裝置具有p-n結(jié),并且所述將可分離層并入包括:將所述可分離層并入所述p-n結(jié)的一側(cè)中。
8.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述光電裝置具有p-n結(jié),并且所述將可分離層并入包括:將所述可分離層并入所述p-n結(jié)的n-側(cè)中,并且還包括:將第二可分離層并入所述p-n結(jié)的p-側(cè)中。
9.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述光電裝置具有量子約束層,并且所述將可分離層并入包括:將所述可分離層并入所述量子約束層中。
10.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述提供半導(dǎo)體施主包括:提供具有多個(gè)片層的晶體半導(dǎo)體施主,并且所述使可分離層與所述施主脫離包括:使所述多個(gè)片層的一部分與所述晶體半導(dǎo)體施主脫離。
11.如權(quán)利要求10所述的方法,其中,所述使多個(gè)片層的一部分脫離包括:使多個(gè)片層與所述晶體半導(dǎo)體施主脫離。
12.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述可分離層具有第一摻雜類型,并且所述方法還包括:將第一半導(dǎo)體層沉積在所述可分離層的第一表面上,其中,所述第一半導(dǎo)體層具有與所述第一摻雜類型相反的第二摻雜類型,由此形成p-n結(jié)。
13.如權(quán)利要求1所述的方法,還包括:在兩個(gè)半導(dǎo)體層之間夾入所述可分離層,其中,所述兩個(gè)半導(dǎo)體層具有相反的摻雜類型,且每個(gè)半導(dǎo)體層的能隙大于所述可分離層的能隙。
14.如權(quán)利要求13所述的方法,還包括:提供具有小于100nm的厚度的所述可分離層,使得所述可分離層在所述光電裝置中起量子約束層的作用。
15.如權(quán)利要求13所述的方法,還包括:提供具有大于100nm的厚度的所述可分離層,使得所述可分離層在所述光電裝置中起電致發(fā)光層的作用。
16.如權(quán)利要求13所述的方法,還包括:提供具有非均勻厚度的所述可分離層,由此使得所述光電裝置在被施加電壓時(shí)發(fā)射多個(gè)光波段。
17.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述非均勻厚度呈曲線形。
18.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述非均勻厚度呈平坦形。
19.如權(quán)利要求12所述的方法,還包括:在沉積前,添加量子點(diǎn)至所述可分離層的表面。
20.如權(quán)利要求1所述的方法,還包括:使用夾間物質(zhì)來改變所述可分離層的能隙。
21.如權(quán)利要求1所述的方法,還包括:通過剝離來改變所述可分離層的能隙。
22.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,使用夾間物質(zhì)完成所述脫離。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





