[發(fā)明專利]大規(guī)模石墨烯片:包含它的制品、組合物、方法以及器件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180039925.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-08-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103237754A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-08-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 埃蘭·T·約翰遜;羅正堂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 賓夕法尼亞大學(xué)理事會(huì) |
| 主分類號(hào): | C01B31/00 | 分類號(hào): | C01B31/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 劉慧;楊青 |
| 地址: | 美國(guó)賓夕*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 大規(guī)模 石墨 包含 制品 組合 方法 以及 器件 | ||
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本專利申請(qǐng)要求2010年8月11日提交的題為“均勻的晶片尺寸的石墨烯的生長(zhǎng)”(Growth?of?Uniform?Wafer-Size?Graphene)的美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)系列號(hào)61/372,589的權(quán)益,其全部?jī)?nèi)容在此引為參考。
政府支持的聲明
本發(fā)明是利用由國(guó)防部高級(jí)研究項(xiàng)目局(Defense?Advanced?Research?Products?Agency)(DARPA)根據(jù)HR0011-09-C-0013修訂2授予的政府支持做出的。美國(guó)政府在本發(fā)明中具有一定權(quán)利。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及石墨烯材料領(lǐng)域和石墨烯合成領(lǐng)域。
背景技術(shù)
由于石墨烯在電子器件和其他應(yīng)用中的使用潛力,石墨烯已在研究團(tuán)體中產(chǎn)生了極大的興趣。
對(duì)大規(guī)模生產(chǎn)這種材料的渴望,已促成了對(duì)通過(guò)包括單晶SiC的超高真空退火和其他化學(xué)氣相沉積法在內(nèi)的方法來(lái)生長(zhǎng)大面積的單層(或幾層)石墨烯的方法的大量最新研究。然而,現(xiàn)有方法在石墨烯的性質(zhì)方面表現(xiàn)出顯著的變化,這對(duì)于許多應(yīng)用來(lái)說(shuō)是不可接受的——石墨烯的均勻厚度是關(guān)鍵問(wèn)題,但是迄今為止的報(bào)告在控制這個(gè)參數(shù)方面僅顯示出有限的成功。因此,在本技術(shù)領(lǐng)域中,對(duì)于大面積的單層石墨烯片以及生產(chǎn)這樣的石墨烯片的相關(guān)方法存在著需求。
發(fā)明概述
在應(yīng)對(duì)所述挑戰(zhàn)的過(guò)程中,請(qǐng)求保護(hù)的發(fā)明首先提供了在平坦化的金屬基材的頂上生長(zhǎng)石墨烯片。請(qǐng)求保護(hù)的發(fā)明還提供了組合物,所述組合物包括含有至少約80%的單層石墨烯的石墨烯片。
附圖說(shuō)明
當(dāng)結(jié)合附圖閱讀時(shí),可進(jìn)一步理解發(fā)明概述以及下面的詳細(xì)描述。出于說(shuō)明本發(fā)明的目的,在圖中示出了本發(fā)明的示例性實(shí)施方案;然而,本發(fā)明不限于所公開(kāi)的具體方法、組合物和器件。此外,附圖不一定是按比例繪制的。在所述附圖中:
圖1示出了未拋光的Cu箔(a、b)以及生長(zhǎng)在Cu箔上并轉(zhuǎn)移到氧化的硅基材后的CVD-石墨烯膜(c、d)的光學(xué)圖像——插入圖是在圖1d中的點(diǎn)A處獲取的拉曼光譜;
圖2示出了在電拋光之前(a)和之后(b)的Cu箔的AFM表面形態(tài)圖像,用相同高度的顏色刻度尺顯示——(c)示出了在(a)和(b)中指示的位置的譜線輪廓,(d)示出了電拋光裝置的示意圖;
圖3示出了通過(guò)化學(xué)氣相沉積生長(zhǎng)在Cu箔上、然后使用PMMA方法轉(zhuǎn)移至300nm氧化物硅基材上的石墨烯的拉曼光譜(詳細(xì)情況參見(jiàn)全文)——分別地,生長(zhǎng)在未拋光的Cu箔上的石墨烯的拉曼光譜由下部的3條曲線示出,生長(zhǎng)在電拋光的Cu箔上的石墨烯的光譜由上部的3條曲線示出;
圖4示出了(a)使用41ppm甲烷原料濃度生長(zhǎng)在電拋光的Cu上的石墨烯的光學(xué)圖像;(b)從圖4(a)中所示的點(diǎn)A和B處獲取的拉曼光譜;(c)使用41ppm甲烷原料濃度生長(zhǎng)在電拋光的Cu上、然后轉(zhuǎn)移到氧化的Si基材上的石墨烯的光學(xué)顯微照片;(d)在圖4(c)中的點(diǎn)A和B處獲取的拉曼光譜;圖4(d)中的插入圖示出了2D帶的詳細(xì)情況;點(diǎn)A處的光譜是單個(gè)洛倫茲型(Lorentzian),表明這個(gè)區(qū)域是單層石墨烯,而點(diǎn)B處的2D峰是四種組分的卷積,這指示了雙層石墨烯;
圖5示出了在生長(zhǎng)在(a)原樣和(b)電拋光的Cu箔上的單層石墨烯上制造的典型石墨烯FET器件的電阻隨柵極電壓變化的曲線——插入圖是石墨烯FET器件的光學(xué)顯微照片;
圖6示出了幾種提出的非限制性的類似于自由基聚合的反應(yīng)途徑,用于解釋在化學(xué)氣相沉積期間石墨烯在不平坦的Cu金屬表面上的生長(zhǎng),(a)烴類在加熱的Cu表面上解離;(b)石墨烯的成核和生長(zhǎng);(c)當(dāng)兩個(gè)活性中心彼此反應(yīng)時(shí),反應(yīng)終止;(d)最終的石墨烯具有由表面粗糙度造成的亂層(turbostatic)結(jié)構(gòu)和無(wú)定形碳。
圖7示出(通過(guò)照片)了已被轉(zhuǎn)移到PDMS印模(stamp)上的石墨烯樣品;
圖8示出了(a)通過(guò)漂浮石墨(Kish?graphene)的微機(jī)械剝離獲得并被沉積在300nm硅晶片上的石墨烯的光學(xué)顯微照片,(b)圖(a)中點(diǎn)2處的單層和雙層石墨烯區(qū)域的拉曼光譜,以及(c)來(lái)自于圖8(a)中點(diǎn)1和3的單層石墨烯的拉曼光譜;并且
圖9示出了(a)生長(zhǎng)在Ni膜上、然后轉(zhuǎn)移到300nm氧化物硅基材上的石墨烯的光學(xué)圖像,以及(b)圖9(a)中點(diǎn)A的拉曼光譜。
詳細(xì)描述
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