[發明專利]度量設備

有效

• 申請號: 201180035200.5
• 申請日: 2011-07-20
• 公開（公告）號: CN103003658A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 戴維·羅伯茨·麥克默特里;史蒂文·保羅·亨特
• 申請（專利權）人: 瑞尼斯豪公司
• 主分類號: G01B5/012
• 分類號: G01B5/012;G01B21/04;G01B5/00
• 代理公司: 北京金思港知識產權代理有限公司 11349
• 代理人: 邵毓琴

1.一種度量設備，該度量設備包括通過軸承裝置可旋轉地連接至第二結構的第一結構，該軸承裝置包括至少第一摩擦軸承，所述第一摩擦軸承包括在所述第一結構相對于所述第二結構的旋轉期間滑動接觸的部件，其特征在于，所述設備包括減輕所述第一摩擦軸承上的載荷的至少一個磁體。

2.根據權利要求1所述的設備，其中所述至少一個磁體包括減輕所述第一摩擦軸承上的載荷的以排斥排列布置的多個磁體。

3.根據權利要求1所述的設備，其中所述至少一個磁體通過磁性吸引減輕所述第一摩擦軸承上的載荷。

4.根據前述權利要求中任一項所述的設備，其中所述至少一個磁體包括至少一個永磁體。

5.根據前述權利要求中任一項所述的設備，其中所述第一摩擦軸承包括與一個或更多個軸承表面滑動接觸的球體，所述第一結構是可相對于所述第二結構圍繞該球體的中心旋轉的。

6.根據前述權利要求中任一項所述的設備，其中所述軸承裝置允許所述第一結構相對于所述第二結構圍繞第一軸線旋轉。

7.根據權利要求6所述的設備，其中所述軸承裝置包括一個或更多個另外的軸承，所述第一摩擦軸承和所述一個或更多個另外的軸承位于所述第一軸線上。

8.根據權利要求7所述的設備，其中所述一個或更多個另外的軸承包括第二摩擦軸承。

9.根據權利要求8所述的設備，其中所述第一結構包括與第二組軸承表面間隔開的第一組軸承表面，并且所述第二結構包括軸，該軸具有沿著其縱向軸線間隔開的第一球體和第二球體，其中所述第一摩擦軸承由所述第一球體和所述第一組軸承表面提供，所述第二摩擦軸承由所述第二球體和所述第二組軸承表面提供。

10.根據權利要求7至9中任一項所述的設備，其中在使用中所述第一軸線對準基本豎直方向。

11.根據前述權利要求中任一項所述的設備，該設備包括至少一個機械止動件，其中所述第一摩擦軸承的滑動接觸的部件被布置成在受到機械震動時分離，在這種分離期間允許的位移量受到所述至少一個機械止動件的限制。

12.根據前述權利要求中任一項所述的設備，該設備包括用于使所述第一結構相對于所述第二結構移動的至少一個馬達、用于測量所述第一結構相對于所述第二結構的旋轉的至少一個旋轉編碼器以及利用來自所述至少一個編碼器的反饋控制所述至少一個馬達的位置控制器。

13.一種鉸接探頭，該鉸接探頭包括用于附裝至坐標定位設備的主軸的基座和用于測量探針的支撐件，其中至少第一和第二鉸接接頭將所述基座和所述支撐件相連，由此允許所述支撐件相對于所述基座圍繞至少第一和第二旋轉軸線旋轉，其中所述第一鉸接接頭包括根據前述權利要求中任一項所述的度量設備。

14.一種度量設備，該度量設備包括至少第一摩擦軸承，其中該設備包括用于減輕由該第一摩擦軸承承載的載荷的至少一個磁體。

15.一種度量設備，該度量設備包括至少第一摩擦軸承，其中該設備包括用于減輕由該第一摩擦軸承承載的載荷的非接觸力產生裝置。

16.一種度量設備，該度量設備包括通過軸承裝置可旋轉地連接至第二結構的第一結構，該軸承裝置包括至少第一摩擦軸承，該第一摩擦軸承包括在所述第一結構相對于所述第二結構旋轉期間滑動接觸的部件，其特征在于，所述設備包括至少一個機械止動件，其中所述第一摩擦軸承的滑動接觸的部件被布置成在受到機械震動時分離，其中在這種分離期間允許的位移量由所述至少一個機械止動件限制。