[發明專利]自動分析裝置有效
| 申請號: | 201180033674.6 | 申請日: | 2011-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN102985830A | 公開(公告)日: | 2013-03-20 |
| 發明(設計)人: | 東信二;山野晃大;渡邊洋 | 申請(專利權)人: | 株式會社日立高新技術 |
| 主分類號: | G01N35/02 | 分類號: | G01N35/02;G01N35/00;G01N35/04 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 雒運樸 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自動 分析 裝置 | ||
1.一種自動分析裝置,其具備:
試樣容器(12),其用于收容試樣;
試樣容器配置機構(28、29),其配置多個所述試樣容器;
試樣分配探針,其為吸引規定量的在所述試樣容器配置機構上的所述試樣容器中收容的試樣并向反應容器排出,而具備使用于吸引試樣的噴嘴位置移動的機構,以;
試樣容器移動機構(27),其使所述試樣容器向所述試樣容器配置機構移動,
所述自動分析裝置配置為所述試樣分配探針與所述試樣容器移動機構會干涉,其特征在于,
所述自動分析裝置具備:
位置檢測機構,其對所述試樣分配探針或試樣容器移動機構的至少一方的位置進行檢測;
控制機構,其進行如下控制,即,在所述位置檢測機構檢測到所述試樣分配探針或所述試樣容器移動機構的至少一方位于預定的位置時,使所述試樣分配探針或試樣容器移動機構的至少一方不移動。
2.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
所述位置檢測機構包括:沿著所述試樣分配探針或試樣容器移動機構的移動軌跡設置的檢測板、對設置在試樣分配探針或試樣容器移動機構上的所述檢測板進行檢測的檢測器。
3.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
所述試樣分配探針包括繞旋轉軸旋轉的臂部和設置在該臂部上的噴嘴。
4.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
所述試樣容器移動機構包括把持試樣容器的把持部和使該把持部移動的把持部移動機構。
5.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
所述位置檢測機構能夠將檢測區域分為多個區域,并檢測所述試樣分配探針或試樣容器移動機構存在于多個區域中的哪個區域。
6.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
當所述位置檢測機構檢測到所述試樣分配探針或試樣容器移動機構的至少一方位于預定的位置時,禁止復位動作以使所述試樣分配探針或試樣容器移動機構的至少一方不移動。
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