[發明專利]流量測量結構及流量測量裝置

無效

• 申請號: 201180032824.1
• 申請日: 2011-07-04
• 公開（公告）號: CN102971608A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 上田直亞;山本克行;野添悟史;前田修治;津熊雄二
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01F1/00
• 分類號: G01F1/00;G01F1/684;G01F1/692
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 張浴月;李玉鎖

技術領域

本發明涉及一種用于測量流經流路(flow?channel)的流體的流率(flow?rate)的裝置，尤其涉及這樣一種流率測量裝置及流量測量結構，其用以基于從主流路分出的副流路中流動的流體來獲得流經所述流路的流體的總流率。

背景技術

通常，現有直管型和分流（diverting）型的流量測量裝置。如圖11A所示，直管型的流量測量裝置具有這樣的構造，其中流率檢測元件202直接布置于要測量流量的氣體或液體所流經的導管201處。

分流型的流量測量裝置具有如圖11B所示的構造，其中朝向分流流路212的導入口布置于主流管211處，并且流率檢測裝置213布置于分流流路212處；或者具有如圖11C所示的構造，其中分流流路216布置于主流管215中，并且流率檢測裝置217布置于分流流路216處。

通常，在直管型的流量測量裝置中，是直接測量管道中流動的流體，從而在測量大流率的流體的情況下，去往流率檢測元件的測量區域的流速(flowvelocity)需要降低。因此，管道的直徑需要擴大，從而限制了裝置的小型化。

因此，在測量大流率的流體時，使用分流型的流量測量裝置。在分流型的流量測量裝置中，分流流路從主流路分出，并且通過流率檢測元件來測量流經分流流路的流體的流速，由此基于主流路與分流流路之間的分流比以及分流流路處的流速來得到總流率。

在專利文件1中，對一種分流型的流量測量裝置100描述如下。具體而言，如圖12A所示，專利文件1描述的流量測量裝置100中，副流路114布置于主流路112上從而在主流路112的外周表面上方延伸。在流量測量裝置100中，導入口115布置于孔口（未示出）上游的主流路112的內壁左右兩側處，并且排出口116布置于所述孔口下游的主流路112的內壁左右兩側處。而后，從導入口115向上延伸的導入流路117的上端部以及從排出口116向上延伸的排出流路118的上端部通過第一副流路119連接以彼此連通。另外，左右兩個導入流路117的上端部通過第二副流路120連接以彼此連通，并且左右兩個排出流路118的上端部通過第二副流路121連接以彼此連通。進而，第二副流路120、121的中心部通過水平檢測流路122連接以彼此連通，并且用于測量氣體流速的流率檢測元件（未示出）布置于檢測通路122中。

然后，對流經檢測流路122的氣體的流速進行測量，并且基于檢測流路處測量的流速以及主流路112與檢測流路122之間的分流比來得到流經流量測量裝置100的氣體的總流率。

相關技術文件

專利文件

專利文件1：日本未審查專利公開第2006-308518號（2006年11月9日公布）

發明內容

本發明要解決的問題

然而，在上述專利文件1所描述的構造中，存在以下問題。即，在專利文件1的構造中，已經從導入口115進入導入流路117的大部分灰塵并不流經第一副流路119、排出流路118、和排出口116，而是流經第二副流路120和檢測流路122。這是因為，如圖12B所示，導入流路117和第一副流路119是彼此垂直連接，從而已經從導入口115進入的灰塵很大可能會因慣性力而直接照直移動（即在導入流路117中沿朝著第二副流路120的方向移動）。須注意，圖12B為圖12A中區域131的局部放大示意圖。

于是，由此，灰塵127附著至布置于檢測流路122處的流率檢測元件125，從而降低流率檢測元件125的測量精度（參見圖12C）。

另外，在專利文件1的構造中，導入流路117和第二副流路120也是彼此垂直連接從而灰塵有很大可能會累積在導入流路117與第二副流路120之間的連接部處。由此，第二副流路120中流動的氣體的量有所改變，從而使主流路112與檢測流路122之間的分流比改變，于是，該流量測量裝置100不能精確地測量氣體的總流率。

現在將參照圖13A和圖13B作出示意性說明。圖13A和圖13B為示出分流型流量測量裝置的示意圖，并且圖13A示出流經主流路151的氣體量用a表示，流經副流路152的氣體量用b表示。然后，在副流路152處布置有流率檢測元件153。在該分流型的流量測量裝置中，如上所述，是通過使用由流率檢測元件153所檢測的副流路152的流率以及主流路151與副流路152之間的分流比（這里為a:b）來計算總流率的。