[發明專利]電子照相感光構件、處理盒和電子照相設備

有效

• 申請號: 201180032350.0
• 申請日: 2011-06-24
• 公開（公告）號: CN102971675A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 關戶邦彥;關谷道代;丸山晃洋;高木進司;長坂秀昭
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G03G5/07
• 分類號: G03G5/07;G03G5/043;G03G5/05;G03G5/06
• 代理公司: 北京魏啟學律師事務所 11398
• 代理人: 魏啟學

1.一種電子照相感光構件，其包括支承體、形成于所述支承體上的底涂層和形成于所述底涂層上的感光層，所述感光層包含電荷產生材料和空穴輸送材料，

其中所述底涂層包含具有由下式(1)表示的重復結構單元的聚合物，條件是從所述具有由下式(1)表示的重復結構單元的聚合物中排除進一步具有由下式(2)表示的重復結構單元的聚合物：

其中，式(1)和(2)中，Z¹至Z⁴各自獨立地表示單鍵、亞烷基、亞芳基、用烷基取代的亞芳基、或亞芳烷基；W¹至W⁴各自獨立地表示單鍵、氨基甲酸酯鍵、或脲鍵；B¹表示用羧基或磺酸基取代的亞芳基、用羧基和烷基取代的亞芳基、或用羧基或磺酸基取代的亞烷基；B²表示亞芳基，亞烷基，亞芳烷基，用烷基、鹵素原子、氰基或硝基取代的亞芳基，用鹵素原子、氰基或硝基取代的亞烷基，用烷基、鹵素原子、氰基或硝基取代的亞芳烷基，由醚或磺酰基中斷的亞芳基，或由醚中斷的亞烷基；A¹和A²各自獨立地表示由任意下式(A-1)至(A-8)表示的二價基團：

其中，式(A-1)中，R¹⁰¹至R¹⁰⁴各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，或鍵合位點；R¹⁰⁵和R¹⁰⁶各自獨立地表示芳基、用烷基或鹵素原子取代的芳基、烷基、或鍵合位點；條件是R¹⁰¹至R¹⁰⁶中的兩個各自為鍵合位點；

式(A-2)中，R²⁰¹至R²⁰⁸各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基、氰基、或鍵合位點；R²⁰⁹和R²¹⁰各自獨立地表示氫原子、芳基、用烷基或鹵素原子取代的芳基、烷基、或鍵合位點；條件是R²⁰¹至R²¹⁰中的兩個各自為鍵合位點；

式(A-3)中，R³⁰¹至R³⁰⁸各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，或鍵合位點；R³⁰⁹表示氧原子、或二氰基亞甲基；R³¹⁰和R³¹¹各自獨立地表示碳原子、或氮原子；在R³¹⁰為氮原子的情況中，R³⁰⁴不存在，和在R³¹¹為氮原子的情況中，R³⁰⁵不存在；條件是R³⁰¹至R³⁰⁸中的兩個各自為鍵合位點；

式(A-4)中，R⁴⁰¹至R⁴⁰⁶各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，或鍵合位點；和R⁴⁰⁷表示氧原子、或二氰基亞甲基；條件是R⁴⁰¹至R⁴⁰⁶中的兩個各自為鍵合位點；

式(A-5)中，R⁵⁰¹至R⁵⁰⁸各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，或鍵合位點；R⁵⁰⁹和R⁵¹⁰各自獨立地表示氧原子、或二氰基亞甲基；R⁵¹¹和R⁵¹²各自獨立地表示碳原子、或氮原子；在R⁵¹¹為氮原子的情況中，R⁵⁰¹不存在，和在R⁵¹²為氮原子的情況中，R⁵⁰⁵不存在；條件是R⁵⁰¹至R⁵⁰⁸中的兩個各自為鍵合位點；

式(A-6)中，R⁶⁰¹至R⁶⁰⁸各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，羰酸酯基，或鍵合位點；R⁶¹⁰和R⁶¹¹各自獨立地表示碳原子、或氮原子；在R⁶¹⁰為氮原子的情況中，R⁶⁰⁴不存在，和在R⁶¹¹為氮原子的情況中，R⁶⁰⁵不存在；和R⁶⁰⁹表示二氰基亞甲基；條件是R⁶⁰¹至R⁶⁰⁸中的兩個各自為鍵合位點；

式(A-7)中，R⁷⁰¹至R⁷¹³各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，羰酸酯基，或鍵合位點；R⁷¹⁴和R⁷¹⁵各自獨立地表示碳原子、或氮原子；在R⁷¹⁴為氮原子的情況中，R⁷⁰⁴不存在，和在R⁷¹⁵為氮原子的情況中，R⁷⁰⁵不存在；條件是R⁷⁰¹至R⁷¹³中的兩個各自為鍵合位點；和

式(A-8)中，R⁸⁰¹至R⁸⁰⁸各自獨立地表示氫原子，芳基，用鹵素原子、硝基、氰基、烷基或鹵代烷基取代的芳基，烷基，氰基，硝基，或鍵合位點；條件是R⁸⁰¹至R⁸⁰⁸中的兩個各自為鍵合位點。