[發明專利]電流控制用半導體元件以及使用其的控制裝置有效
| 申請號: | 201180032330.3 | 申請日: | 2011-06-02 |
| 公開(公告)號: | CN102971843A | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發明(設計)人: | 廣津鐵平;金川信康;田邊至 | 申請(專利權)人: | 日立汽車系統株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/8234 | 分類號: | H01L21/8234;H01L21/822;H01L27/04;H01L27/088;H03K17/14;H03K17/695 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 王亞愛 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電流 控制 半導體 元件 以及 使用 裝置 | ||
1.一種電流控制用半導體元件,其特征在于,
在同一半導體芯片上具有:驅動電流的主MOSFET;和與所述主MOSFET并聯連接,用于分流所述主MOSFET的電流來進行電流檢測的感應MOSFET,
所述主MOSFET使用具有多個溝道并且排列成一列的多指MOSFET而形成,
所述多指MOSFET的一部分的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道,
并且,若設從所述多指MOSFET的中心到最遠的溝道為止的距離為L,則將所述多指MOSFET的距中心最接近的位置的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道。
2.根據權利要求1所述的電流控制用半導體元件,其特征在于,
構成所述多指MOSFET的MOSFET全部形成為相同圖案。
3.根據權利要求2所述的電流控制用半導體元件,其特征在于,
在所述多指MOSFET的排列方向上,將所述多指MOSFET的距中心處于對稱位置且最接近的位置的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道。
4.根據權利要求1所述的電流控制用半導體元件,其特征在于,
進一步地,將與所述排列成一列的多指MOSFET相同形狀的多指MOSFET在所述多指MOSFET的溝道的寬度方向上配置多列來形成多指陣列,
在若將從所述多指陣列的中心到所述多指MOSFET的排列方向上最遠的多指MOSFET為止的距離設為Lx,則距所述多指陣列的中心為的位置,
并且若將從所述多指MOSFET的中心到所述多指MOSFET的溝道的寬度方向上的最遠的溝道為止的距離設為Ly,則將所述選擇的多指MOSFET的距中心最接近的位置的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道。
5.根據權利要求4所述的電流控制用半導體元件,其特征在于,
若將從所選擇的多指MOSFET的中心到所述多指MOSFET的溝道的寬度方向上的最遠的溝道為止的距離設為Ly,則將所述選擇的多指MOSFET的距中心最接近的位置的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道,
并且,將作為距所述多指陣列的中心最接近的位置的多指MOSFET而選擇的其它的MOSFET用作虛擬元件。
6.一種控制裝置,具有電流控制用半導體元件、和控制該電流控制用半導體元件的微控制器,其特征在于,
所述電流控制用半導體元件在同一半導體芯片上具有:驅動電流的主MOSFET;和與所述主MOSFET并聯連接,用于分流所述主MOSFET的電流來進行電流檢測的感應MOSFET,
所述主MOSFET使用具有多個溝道并且排列成一列的多指MOSFET而形成,
所述多指MOSFET的一部分的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道,
并且,若設從所述多指MOSFET的中心到最遠的溝道為止的距離為L,則將所述多指MOSFET的距中心最接近的位置的溝道用作所述感應MOSFET用的溝道。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





