[發明專利]用于確定對象的材料特性的方法

有效

• 申請號: 201180016233.5
• 申請日: 2011-03-28
• 公開（公告）號: CN102939531A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發明（設計）人: T.埃特爾
• 申請（專利權）人: 德固薩有限責任公司
• 主分類號: G01N21/49
• 分類號: G01N21/49;G01B11/25;G02B21/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張濤;盧江

1.?一種用于確定對象的材料特性，尤其是優選半透明對象的光學特性的方法，其特征在于，為了確定材料特性利用參照物體的光譜分辨的數據計算用共焦3D測量系統確定的對象的測量數據的光譜分辨的數據，其中對測量點確定在測量系統至對象的距離相互不同時的多個光譜分辨的數據。

2.?根據權利要求1所述的方法，其特征在于，使用共焦的色散3D測量系統。

3.?根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，為了確定材料特性，測量多焦點照射圖案的成像在對象上的焦點的直接反射的第一輻射的光譜分辨的數據，而且還在離相應成像的焦點距離Δx處測量漫反射的第二輻射。

4.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，與一個焦點對應的直接反射的第一輻射與漫反射的第二輻射之間的距離在5μm與3mm之間，尤其是在10μm與200μm之間。

5.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，為了確定光譜分辨的數據借助3D測量裝置向對象施加第一輻射，該第一輻射處在波長范圍Δλ1中，向對象施加處在波長范圍Δλ2中的第二輻射，并且根據由該對象漫反射的第二輻射確定該對象的2D圖像。

6.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，用具有與對象的位置坐標對應的第一像素的第一傳感器測量3D圖像，用具有與對象的位置坐標對應的第二像素的第二傳感器測量2D圖像，并且第一像素和第二像素相互對應。

7.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，借助利用第一傳感器確定的來自一個或多個幀的光譜信息和利用第二傳感器確定的來自一個或多個幀的光譜信息計算材料對應，其中所述多個幀顯示在不同角度和/或在不同時間的相同測量點。

8.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，向所測量的光譜施加校正因子，該校正因子由參照物體的光譜確定，在沒有共焦測量條件的情況下測量該參照物體的漫反射或者從存儲在計算機中的庫中獲得該參照物體的光譜。

9.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，將在考慮所述校正因子情況下的測量光譜與存儲在查找表中的光譜進行比較，所述存儲在查找表中的光譜代表材料特性。

10.?根據上述權利要求至少之一所述的方法，其特征在于，既由在共焦條件下確定的測量點的測量光譜又由該測量點區域中的背景光譜來確定材料特性。