[發(fā)明專利]用于使用太赫頻率范圍的輻射來分析樣品的設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180009472.8 | 申請(qǐng)日: | 2011-02-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102762973A | 公開(公告)日: | 2012-10-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | L·特里波迪;J·戈梅里瓦斯;U·R·R·普法伊費(fèi)爾;P·G·哈林玻利瓦爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/35 | 分類號(hào): | G01N21/35;G01N21/55;G02B6/122 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 舒雄文;蹇煒 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國(guó)省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 使用 頻率 范圍 輻射 分析 樣品 設(shè)備 | ||
1.用于使用太赫頻率范圍的輻射來分析樣品的設(shè)備,包括:
-發(fā)射器(3),包括用于生成電磁THz信號(hào)的THz信號(hào)生成器(5,6,7;51),所述THz信號(hào)生成器包括非線性傳輸線(7;52);
-表面等離子體偏振子生成單元(8),適于將所述THz信號(hào)轉(zhuǎn)換為表面等離子體偏振子;
-THz表面等離子體偏振子傳感器(9),適于使生成的表面等離子體偏振子與樣品(10)相互作用;以及
-接收器(4),包括適于將表面等離子體偏振子轉(zhuǎn)換為電磁THz信號(hào)的THz表面等離子體偏振子探測(cè)器(11);
所述發(fā)射器(3)、所述表面等離子體偏振子生成單元(8)、以及所述接收器(4)集成在一個(gè)公共的基底上或兩個(gè)分開的基底上;其中,用于生成THz表面等離子體偏振子的所有部件集成在所述單個(gè)基底上或分別集成在多個(gè)基底上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中,所述表面等離子體偏振子生成單元(8)包括至少一個(gè)輻射元件和至少一個(gè)定向性產(chǎn)生結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的設(shè)備,其中,所述THz表面等離子體偏振子傳感器(9)包括傳導(dǎo)表面,所述傳導(dǎo)表面適于使得能夠激發(fā)傳播表面等離子體偏振子或局域化表面等離子體偏振子。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述表面等離子體偏振子探測(cè)器(11)包括至少一個(gè)天線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述接收器(4)包括非線性傳輸線(16;55)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述接收器(4)包括兩-二極管采樣橋(15)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述發(fā)射器(3)和所述接收器(4)二者各包括至少一個(gè)振蕩器(5,18;51,54)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述THz信號(hào)生成器(5,6,7;51)適于使得所述電磁THz信號(hào)為沖擊或脈沖。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述THz信號(hào)生成器(51)是孤波振蕩器,所述孤波振蕩器包括放大器(53)和所述放大器的反饋回路中的非線性傳輸線(52)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至9中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備還包括模擬低頻IF輸出端(21)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1至10中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備還包括模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器和數(shù)字信號(hào)處理單元。
12.根據(jù)權(quán)利要求1至11中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備是成像設(shè)備或分光設(shè)備。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至12中的任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其中,所述設(shè)備是醫(yī)學(xué)圖像獲取設(shè)備或醫(yī)學(xué)分光設(shè)備。
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





