[發明專利]底層膜材料及多層抗蝕圖案的形成方法無效
| 申請號: | 201180009314.2 | 申請日: | 2011-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN102754033A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 林宏美;越后雅敏 | 申請(專利權)人: | 三菱瓦斯化學株式會社 |
| 主分類號: | G03F7/11 | 分類號: | G03F7/11;H01L21/027;H01L21/3065 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;李茂家 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 底層 材料 多層 圖案 形成 方法 | ||
1.一種底層膜材料,其包括兩種或多種由下式(1-1)表示的環狀化合物,其中至少一種R’為由下式(1-2)表示的基團,至少一種由下式(1-2)表示的基團的含量為包含在所述材料中的R’的10mol%至90mol%:
(在式(1-1)中,L獨立地為選自由單鍵、碳數為1至20的直鏈或支化的亞烷基、碳數為3至20的亞環烷基、碳數為6至24的亞芳基、-O-、-OC(=O)-、-OC(=O)O-、-N(R5)-C(=O)-、-N(R5)-C(=O)O-、-S-、-SO-、-SO2-及其任意組合組成的組中的二價基團;R1獨立地為碳數為1至20的烷基、碳數為3至20的環烷基、碳數為6至20的芳基、碳數為1至20的烷氧基、氰基、硝基、羥基、雜環基、鹵原子、羧基、碳數為2至20的酰基、碳數為1至20的烷基甲硅烷基或氫原子;R’獨立地為氫原子,碳數為1至20的烷基,聯苯基,碳數為6至20的芳基的氫原子被碳數為1至20的烷基和鹵原子取代的基團,或碳數為2至20的烷基的一個或多個氫原子被碳數為1至20的烷基、碳數為6至20的芳基、碳數為1至20的烷氧基、氰基、硝基、雜環基、鹵原子、羧基、碳數為2至20的酰基、羥基和碳數為1至20的烷基甲硅烷基取代的基團,或者由下式(1-2)表示的基團:
[化學式2]
其中,R4獨立地為選自由氫原子、碳數為1至20的烷基、碳數為3至20的環烷基、碳數為6至20的芳基、碳數為1至20的烷氧基、氰基、硝基、雜環基、鹵原子、羧基、羥基、具有碳數為3至20的烷基的環烷基和碳數為1至20的烷基甲硅烷基組成的組中的官能團;R5為氫原子或碳數為1至10的烷基;m為1至4的整數;和p為0至5的整數)。
2.根據權利要求1所述的底層膜材料,其中所述環狀化合物由下式(2)表示:
(在式(2)中,R1、R’和m與上述相同;X2為氫原子或鹵原子;m5為0至3的整數;和m+m5=4)。
3.根據權利要求1所述的底層膜材料,其中所述環狀化合物由下式(3)表示:
[化學式4]
(在式(3)中,R’和m與上述相同,條件是所有R’不必相同)。
4.根據權利要求1所述的底層膜材料,其中R’包括選自由下式(1-3)表示的基團組成的組中的基團,且不是所有R’都相同。
5.根據權利要求1所述的底層膜材料,其通過使用酸催化劑使選自由下式(4-1)表示的醛類(A1)(條件是至少之一為由下式(4-2)表示的醛類)組成的組中的兩種或多種和選自由酚類化合物(A2)組成的組中的一種或多種進行縮合反應來獲得:
[化學式6]
(在式(4-1)中,R’與上述相同)
(在式(4-2)中,R4和p與上述相同)。
6.根據權利要求5所述的底層膜材料,其通過將混合液(B)滴入混合液(A)中來獲得,所述混合液(B)由選自由醛類(A1)(條件是至少之一為由式(4-2)表示的醛類)組成的組中的兩種或多種構成,所述混合液(A)由酚類化合物(A2)、酸催化劑和醇構成。
7.根據權利要求1所述的底層膜材料,其進一步包括溶劑。
8.根據權利要求1或7所述的底層膜材料,其中所述環狀化合物為環狀化合物(A),所述環狀化合物(A)具有700至5000的分子量,并通過借助使用酸催化劑的選自由下式(4-1)表示的醛類(A1)(條件是至少之一為由下式(4-2)表示的醛類)組成的組中的兩種或多種和選自由酚類化合物(A2)組成的組中的一種或多種的縮合反應來合成:
(4-1)
(在式(4-1)中,R’與上述相同)
(在式(4-2)中,R4和p與上述相同)。
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