[發明專利]位移傳感器有效
| 申請號: | 201180005285.2 | 申請日: | 2011-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN102713510A | 公開(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發明(設計)人: | 瀧政宏章;飯田雄介;中村英義;一柳星文 | 申請(專利權)人: | 歐姆龍株式會社 |
| 主分類號: | G01C3/00 | 分類號: | G01C3/00;G01B11/00;G01C3/06 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 董雅會;郭曉東 |
| 地址: | 日本京都*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 位移 傳感器 | ||
1.一種位移傳感器,一邊反復執行向對象物投射光且接收該光被對象物反射的反射光的檢測處理、基于接收所述反射光的受光結果來測量對象物的位移量的測量處理、對所述測量的數據的移動平均值運算,一邊輸出檢測數據,該檢測數據是通過移動平均值運算得到的平均值的數據,其特征在于,
所述位移傳感器具有:
記錄單元,用于記錄所述移動平均值運算的數據數量,
輸入單元,用于輸入表示與位移傳感器的響應時間相關的條件的參數以及表示與檢測數據的精度相關的條件的參數,
示教模式執行單元,執行將所述移動平均值運算的數據數量記錄在所述記錄單元中的示教模式;
所述示教模式執行單元具有:
設定處理單元,執行第一處理和第二處理,該第一處理是指,分別將所述檢測處理和測量處理執行多次,并對所述檢測處理的處理時間進行設定的處理,該第二特定處理是指,求出通過所述測量處理得到的測量數據的差量的處理,
數據數量導出單元,以向輸入單元輸入表示與所述響應時間相關的條件的參數以及表示與檢測數據的精度相關的條件的參數中的至少一個參數,并通過所述設定處理單元執行了處理為條件,該數據數量導出單元通過利用所述設定處理單元的處理結果的運算處理,求出與所輸入的所述參數的值相匹配的移動平均值運算的數據數量,
記錄處理單元,基于所述數據數量導出單元的處理結果,決定所述移動平均值運算的數據數量,并將該數據數量記錄在所述記錄單元中。
2.如權利要求1所述的位移傳感器,其特征在于,
所述輸入單元,作為表示與所述響應時間相關的條件的參數而輸入表示該響應時間的目標值的數值,并且作為與檢測數據的精度相關的參數而輸入表示檢測數據的誤差的允許值的數值,
作為所述運算處理,所述數據數量導出單元利用第一算式和第二算式中的至少一個算式來進行運算,其中,該第一算式表示所述檢測處理的處理時間、移動平均值運算的數據數量和響應時間之間的關系,該第二算式表示測量數據的差量、移動平均值運算的數據數量和檢測數據的誤差之間的關系。
3.如權利要求2所述的位移傳感器,其特征在于,
所述數據數量導出單元,在將所述響應時間的目標值以及檢測數據的誤差的允許值這兩個參數輸入到輸入單元時,優先選擇該兩個參數中的一個參數來執行第一運算之后,再執行第二運算,其中,在該第一運算中,在與被選擇的該參數對應的算式中代入作為該參數而輸入的值和所述設定處理單元的處理結果,來求出移動平均值運算的數據數量,在該第二運算中,向與未被選擇的參數對應的算式中代入通過所述第一運算求出的移動平均值運算的數據數量和所述設定處理單元的處理結果,來求出未被選擇的該參數的值,
所述記錄處理單元,判斷未被選擇的所述參數的通過所述第二運算求出的值是否與已輸入到所述輸入單元的值相匹配,在判斷為相匹配時,將通過所述第一運算求出的移動平均值運算的數據數量記錄在所述記錄單元中。
4.如權利要求3所述的位移傳感器,其特征在于,還具有輸出單元,在記錄處理單元判斷為未被選擇的所述參數的通過所述第二運算求出的值與已輸入到所述輸入單元的值不匹配時,所述輸出單元輸出未被選擇的該參數的通過第二運算求出的值來用于進行顯示。
5.如權利要求1所述的位移傳感器,其特征在于,還設置有信號輸入單元,該信號輸入單元用于輸入使所述示教模式下的處理開始的指示信號,并且所述設定處理單元響應于該指示信號的輸入而進行動作。
6.如權利要求5所述的位移傳感器,其特征在于,
在每次輸入使所述處理開始的指示信號時,數據數量導出單元以及記錄處理單元與所述設定處理單元一起進行動作,
所述記錄處理單元,針對第二次以后的指示信號的輸入,利用在設定處理單元以及數據數量導出單元響應于這次的指示信號的輸入而執行的處理中導出的數據數量和響應于前一次的指示信號的輸入而記錄在所述記錄單元中的數據數量,決定移動平均值運算的數據數量的最佳值。
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