[發(fā)明專(zhuān)利]非易失性存儲(chǔ)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180004276.1 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102656692A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-09-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 藤井覺(jué);空田晴之;三河巧 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L27/105 | 分類(lèi)號(hào): | H01L27/105;H01L45/00;H01L49/00 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 陳萍;高迪 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 非易失性 存儲(chǔ) 裝置 | ||
1.一種非易失性存儲(chǔ)裝置,包括:
第一電極布線,在襯底上被形成為帶狀;
層間絕緣層,被形成在所述第一電極布線以及所述襯底上;
存儲(chǔ)單元孔,貫通所述層間絕緣層而到達(dá)所述第一電極布線;
電阻變化層,在所述存儲(chǔ)單元孔中,被形成在覆蓋所述存儲(chǔ)單元孔的底部以及側(cè)面的區(qū)域;
第一電極,在所述電阻變化層上,被形成在所述存儲(chǔ)單元孔的內(nèi)部;以及
第一布線,在所述第一電極以及所述層間絕緣層上,在至少覆蓋所述存儲(chǔ)單元孔的開(kāi)口的區(qū)域,在與所述第一電極布線交叉的方向上被形成為帶狀,
所述電阻變化層為第一電阻變化層與第二電阻變化層的層疊構(gòu)造體,所述第一電阻變化層由缺氧型過(guò)渡金屬氧化物構(gòu)成,所述第二電阻變化層由缺氧氮型過(guò)渡金屬氧氮化物構(gòu)成,所述缺氧氮型過(guò)渡金屬氧氮化物的含氧率與所述第一電阻變化層不同,
在將所述過(guò)渡金屬表示為M、將所述第一電阻變化層的組成表示為MOz、將所述第二電阻變化層的組成表示為MOxNy的情況下,
滿足z>x+y的關(guān)系。
2.如權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)裝置,
所述第一電阻變化層與所述存儲(chǔ)單元孔的底部以及側(cè)面接觸,所述第二電阻變化層與所述第一電阻變化層接觸。
3.如權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)裝置,
所述過(guò)渡金屬為,從由鉭、鉿、鋯、鎳、鈦而成的群中選擇的某一個(gè)過(guò)渡金屬。
4.如權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)裝置,
所述過(guò)渡金屬為鉭。
5.如權(quán)利要求4所述的非易失性存儲(chǔ)裝置,
缺氧氮型鉭氧氮化物中占有的氧原子數(shù)與氮原子數(shù)的總和為50至70atm%。
6.如權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)裝置,
在所述第一電極與所述第一布線之間設(shè)置有第一電流控制層。
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- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專(zhuān)門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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