[發(fā)明專利]碳化硅襯底的制造方法、半導(dǎo)體器件的制造方法、碳化硅襯底及半導(dǎo)體器件無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201180003852.0 | 申請(qǐng)日: | 2011-02-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102511074A | 公開(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 佐佐木信;原田真;增田健良;和田圭司;井上博揮;西口太郎;沖田恭子;并川靖生;堀井拓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 住友電氣工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H01L21/336;H01L29/12;H01L29/78 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 韓峰;孫志湧 |
| 地址: | 日本大阪*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 碳化硅 襯底 制造 方法 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種用于制造碳化硅襯底(1)的方法,包括下列步驟:
準(zhǔn)備由碳化硅制成的基底襯底(10)和由單晶碳化硅制成的SiC襯底(20);
通過堆疊所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)以使得所述基底襯底(10)和SiC襯底(20)的主表面彼此接觸,來制造堆疊襯底(2);
通過加熱所述堆疊襯底(2)以使所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)彼此連接,來制造連接襯底(3);
通過加熱所述連接襯底(3)以在所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)之間形成溫度差,來使得在制造所述連接襯底(3)的步驟中在所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)之間的界面(15)處形成的空洞(30)在所述連接襯底(3)的厚度方向上轉(zhuǎn)移;以及
通過去除包含所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)中的一個(gè)襯底(10)的主表面(10B)的區(qū)域來去除所述空洞(30),所述一個(gè)襯底(10)在轉(zhuǎn)移所述空洞(30)的步驟中被加熱到具有較高溫度,所述一個(gè)襯底(10)的所述主表面(10B)與所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)中的另一個(gè)襯底(20)相反。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中:
在轉(zhuǎn)移所述空洞(30)的步驟中,加熱所述連接襯底(3),以使所述基底襯底(10)具有的溫度高于所述SiC襯底(20)的溫度,并且
在去除所述空洞(30)的步驟中,通過去除包括所述基底襯底(10)的與所述SiC襯底(20)相反的主表面(10B)的區(qū)域來去除所述空洞(30)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在轉(zhuǎn)移所述空洞(30)的步驟中,將所述基底襯底(10)的相對(duì)于所述SiC襯底(20)相反的主表面(10B)加熱到落入不低于1500℃且不高于3000℃的溫度范圍內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,在制造所述堆疊襯底(2)的步驟之前,還包括對(duì)在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中將要彼此接觸的、所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)的主表面(10A、20B)進(jìn)行平滑化的步驟。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于制造碳化硅襯底(1)方法,其中,
在執(zhí)行制造所述堆疊襯底(2)的步驟之前不對(duì)在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中將要彼此接觸的、所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)的主表面(10A、20B)進(jìn)行拋光的情況下,來執(zhí)行制造所述堆疊襯底(2)的步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中,當(dāng)從平面視角觀看時(shí),在所述基底襯底(10)上并排布置多個(gè)所述SiC襯底(20)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中,所述SiC襯底(20)具有相對(duì)于所述基底襯底(10)相反并且相對(duì)于{0001}面具有不小于50°且不大于65°的偏離角的主表面(20A)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中,所述SiC襯底(20)的相對(duì)于所述基底襯底(10)相反的主表面(20A)具有相對(duì)于<1-100>方向形成5°或更小的角度的偏離取向。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中,所述SiC襯底(20)的相對(duì)于所述基底襯底(10)相反的主表面(20A)在<1-100>方向上相對(duì)于{03-38}面具有不小于-3°且不大于5°的偏離角。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在制造所述堆疊襯底(2)的步驟中,所述SiC襯底(20)的相對(duì)于所述基底襯底(10)相反的主表面(20A)具有相對(duì)于<11-20>方向形成5°或更小的角度的偏離取向。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于制造碳化硅襯底(1)的方法,其中,
在使所述基底襯底(10)和所述SiC襯底(20)相連接的步驟中,在通過減小大氣的壓力而得到的氣氛中加熱所述堆疊襯底(2)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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