[發明專利]磁共振成像裝置和磁共振成像方法

有效

• 申請號: 201180003034.0
• 申請日: 2011-12-19
• 公開（公告）號: CN102711602A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 待井豊;草原博志;葛西由守
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝醫療系統株式會社
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;G01R33/58
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 楊謙;胡建新

1.一種磁共振成像裝置，具備：

成像單元，通過伴隨施加軸相同且與不同的b值對應的MPG脈沖的施加來執行擴散強調成像，從而收集與上述不同的b值對應的多個擴散強調圖像數據；以及

失真校正單元，基于與上述多個擴散強調圖像數據中的成為失真校正的對象的擴散強調圖像數據所對應的b值不同的b值所對應的擴散強調圖像數據，計算出針對成為上述失真校正的對象的擴散強調圖像數據的失真校正系數，通過使用計算出的上述失真校正系數來執行成為上述失真校正的對象的擴散強調圖像數據的失真校正，從而生成被實施了上述失真校正的圖像數據。

2.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其中，

上述成像單元構成為：收集與絕對值相同且符號相反的b值對應的2個擴散強調圖像數據，

上述失真校正單元構成為：基于上述2個擴散強調圖像數據，計算出針對上述2個擴散強調圖像數據的一方的失真校正系數。

3.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其中，

上述成像單元構成為：收集與絕對值不同的b值對應的多個擴散強調圖像數據，

上述失真校正單元構成為：基于與成為基準的b值對應的失真校正系數，計算出與比上述成為基準的b值大的b值對應的失真校正系數。

4.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其中，

還具備：存儲單元，存儲由上述失真校正單元計算出的上述失真校正系數，

上述失真校正單元構成為：參照上述存儲單元能夠取得上述失真校正系數。

5.根據權利要求2所述的磁共振成像裝置，其中，

上述成像單元構成為：使b值為0來進一步收集圖像數據，

上述失真校正單元構成為：還基于使上述b值為0而收集到的圖像數據，計算出上述失真校正系數。

6.根據權利要求2所述的磁共振成像裝置，其中，

上述失真校正單元構成為：將針對上述2個擴散強調圖像數據或者基于上述2個擴散強調圖像數據生成的2個圖像數據的各坐標變換系數作為參數，通過使上述2個擴散強調圖像數據或者上述2個圖像數據相對于使b值為0而收集到的圖像數據的位置偏移的指標為最小的最優化處理，來計算上述各坐標變換系數，將與較小的指標對應的坐標變換系數作為上述失真校正系數。

7.根據權利要求2所述的磁共振成像裝置，其中，

上述失真校正單元構成為：將針對上述2個擴散強調圖像數據的一方或者基于上述2個擴散強調圖像數據生成的2個圖像數據的一方的坐標變換系數作為參數，基于通過最優化處理計算出的坐標變換系數，決定上述失真校正系數，其中，上述最優化處理是使上述一方相對于使b值為0而收集到的圖像數據的位置偏移的指標和相對于另一方的位置偏移的指標為最小的處理。

8.根據權利要求2所述的磁共振成像裝置，其中，

上述失真校正單元構成為：將針對上述2個擴散強調圖像數據的一方或者基于上述2個擴散強調圖像數據生成的2個圖像數據的一方的坐標變換系數作為參數，基于通過使上述一方相對于另一方的位置偏移的指標為最小的最優化處理而計算出的坐標變換系數，決定上述失真校正系數。

9.根據權利要求2所述的磁共振成像裝置，其中，

上述失真校正單元構成為：通過包含針對上述2個擴散強調圖像數據的邊緣檢測在內的處理，計算出上述失真校正系數。

10.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其中，

還具備：圖像處理單元，進行取上述失真校正前和上述失真校正后的規定的多個擴散強調圖像數據的至少一方的平均的平均處理。

11.根據權利要求10所述的磁共振成像裝置，其中，

上述圖像處理單元構成為：在上述失真校正后對與相互不同的b值對應的多個擴散強調圖像數據進行上述平均處理。

12.一種磁共振成像方法，具有如下步驟：

通過伴隨施加軸相同且與不同的b值對應的MPG脈沖的施加來執行擴散強調成像，從而收集與上述不同的b值對應的多個擴散強調圖像數據的步驟；以及

基于與上述多個擴散強調圖像數據中的成為失真校正的對象的擴散強調圖像數據所對應的b值不同的b值所對應的擴散強調圖像數據，計算出針對成為上述失真校正的對象的擴散強調圖像數據的失真校正系數，通過使用計算出的上述失真校正系數來執行成為上述失真校正的對象的擴散強調圖像數據的失真校正，從而生成被實施了上述失真校正的圖像數據的步驟。